[发明专利]滑移式电子元件测试装置有效

专利信息
申请号: 201811036192.6 申请日: 2018-09-06
公开(公告)号: CN110879304B 公开(公告)日: 2022-12-30
发明(设计)人: 欧阳勤一;陈建名;吕孟恭 申请(专利权)人: 致茂电子股份有限公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04
代理公司: 北京三幸商标专利事务所(普通合伙) 11216 代理人: 刘卓然
地址: 中国台湾桃*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 发明涉及一种滑移式电子元件测试装置,主要包括基座、滑座以及压抵装置;其中,当欲测试电子元件时,电子元件置于芯片容置模块内,基座与滑座通过第一滑移导引件和第二滑移导引件的导引形成相对滑移,而使压抵装置的压抵块对位并压抵电子元件。再者,本发明可通过压抵装置下压抵接电子元件,并提供充足接触压力,且接触压力与探针的弹性恢复力所形成的反作用力,可于该装置内达成内力平衡。另外,本发明的基座和滑座可以水平或任意角度滑移作动,特别切换不同状态时,大幅缩小整体体积,并简化设备整体机构。
搜索关键词: 滑移 电子元件 测试 装置
【主权项】:
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