[发明专利]制备集成电路封装体的方法、集成电路基板及其制备方法有效
申请号: | 201811016896.7 | 申请日: | 2018-08-31 |
公开(公告)号: | CN109243983B | 公开(公告)日: | 2020-10-30 |
发明(设计)人: | 王政尧;王志远;贾丹丹 | 申请(专利权)人: | 苏州日月新半导体有限公司 |
主分类号: | H01L21/48 | 分类号: | H01L21/48;H01L21/56;H01L21/78;H01L21/60;H01L23/498 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 林斯凯 |
地址: | 215021 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明实施例涉及一种制备集成电路封装体的方法以及一种集成电路基板及其制备方法。其中,该制备集成电路基板的方法包括:1)提供载板;2)对载板进行加工,得到基板结构;其中基板结构具有第一表面以及第二表面;基板结构的第一表面上设有多个引脚和导电触点,引脚上设有阻焊层,基板结构的第二表面上设有第一金属层;3)移除第一金属层以裸露出多个引脚;以及4)在多个引脚中的每一者的经裸露表面上形成第二金属层,得到集成电路基板。与现有技术相比,本发明实施例提供的集成电路基板及其制备方法,通过改变现有技术中的基板工艺和封装工艺,使得封装工艺中省去了蚀刻和电镀的步骤,既简化了封装制程,又降低了封装成本和时间。 | ||
搜索关键词: | 制备 集成电路 封装 方法 集成 路基 及其 | ||
【主权项】:
1.一种制备集成电路基板的方法,所述方法包括:1)提供一载板;2)对所述载板进行加工,得到一基板结构;其中所述基板结构具有第一表面以及与所述第一表面相对的第二表面;所述基板结构的所述第一表面上设有多个引脚和导电触点,所述引脚上设有阻焊层,所述基板结构的所述第二表面上设有第一金属层;3)移除所述第一金属层以裸露出多个引脚;以及4)在所述多个引脚中的每一者的经裸露表面上形成第二金属层,得到所述集成电路基板。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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