[发明专利]激光测量的校验方法、装置、系统、设备和存储介质有效
| 申请号： | 201811015335.5 | 申请日： | 2018-08-31 |
| 公开（公告）号： | CN108827157B | 公开（公告）日： | 2020-11-20 |
| 发明（设计）人： | 贾玮 | 申请（专利权）人： | 广州视源电子科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 黄隶凡 |
| 地址： | 510530 广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种激光测量的校验方法、装置、系统、计算机设备和存储介质。所述方法包括：获取校验图像；获取所述校验图像对应的激光图像，并识别所述激光图像的激光点；根据所述校验图像对应的三维参数，获取所述激光点的三维坐标；根据所述激光点的三维坐标，拟合三维激光平面；所述三维激光平面用于校验测量精度。根据本发明实施例，解决了利用尺寸精度不高的大型金属进行校验所造成的校验准确性较低的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 激光 测量 校验 方法 装置 系统 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
1.一种激光测量的校验方法，其特征在于，包括：获取校验图像；获取所述校验图像对应的激光图像，并识别所述激光图像的激光点；根据所述校验图像对应的三维参数，获取所述激光点的三维坐标；根据所述激光点的三维坐标，拟合三维激光平面；所述三维激光平面用于校验测量精度。
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