[发明专利]激光测量的校验方法、装置、系统、设备和存储介质

权利要求书

1.一种激光测量的校验方法，其特征在于，包括：

启动校验板上的用于发光的发光装置，并获取针对所述校验板进行拍摄得到的校验图像；

识别所述校验图像的多个校验点，并获取所述多个校验点的二维坐标；

根据所述多个校验点的二维坐标，计算内参矩阵和外参矩阵，作为所述校验图像的三维参数；

获取所述校验图像对应的激光图像，并识别所述激光图像的激光点；

根据所述校验图像对应的三维参数，获取所述激光点的三维坐标；

根据所述激光点的三维坐标，拟合三维激光平面；所述三维激光平面用于校验测量精度；

所述识别所述激光图像的激光点，包括：在所述激光图像中提取原始激光点；采用所述校验图像的畸变校正参数，对所述原始激光点进行畸变校正，得到校正激光点；对所述校正激光点进行去噪，得到候选激光点；获取二维坐标符合设定的坐标范围的候选激光点，作为所述激光点。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述三维参数包括内参矩阵和外参矩阵，所述根据所述校验图像对应的三维参数，获取所述激光点的三维坐标，包括：

获取所述激光点的二维坐标；

根据所述内参矩阵和外参矩阵，将所述二维坐标转换为三维坐标，作为所述激光点的三维坐标。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在所述根据所述校验图像对应的三维参数，获取所述激光点的三维坐标之前，还包括：

识别所述校验图像的多个校验点；

获取所述多个校验点的二维坐标；

根据所述多个校验点的二维坐标，计算所述内参矩阵和所述外参矩阵，作为所述三维参数。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述激光图像具有多个，所述根据所述激光点的三维坐标，拟合三维激光平面，包括：

获取多个激光图像的激光点，得到多组激光点；

根据所述多组激光点的三维坐标，生成多个三维激光点；

合成所述多个三维激光点，得到所述三维激光平面。

5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述三维参数还包括畸变校正参数，所述对所述校正激光点进行去噪，得到候选激光点，包括：

通过RANSAC直线拟合，对所述校正激光点进行去噪处理，将余下的校正激光点作为所述候选激光点。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，还包括：

识别所述多个校验点的图像特征；

筛选图像特征符合预设图像特征的校验点，作为目标校验点；

采用所述目标校验点的二维坐标，生成所述坐标范围。

7.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述在所述激光图像中提取原始激光点，包括：

识别所述激光图像的多个像素点；

对所述多个像素点进行上采样，得到多个采样像素点；

计算所述多个采样像素点的卷积值；

在同一列的采样像素点中，确定最大卷积值的采样像素点，作为所述原始激光点。

8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述获取校验图像之前，还包括：

生成发光信息；

发送所述发光信息至校验板；所述校验板用于根据所述发光信息启动发光装置；所述发光装置用于发光。