[发明专利]激光测量的校验方法、装置、系统、设备和存储介质

说明书

本发明涉及一种激光测量的校验方法、装置、系统、计算机设备和存储介质。所述方法包括：获取校验图像；获取所述校验图像对应的激光图像，并识别所述激光图像的激光点；根据所述校验图像对应的三维参数，获取所述激光点的三维坐标；根据所述激光点的三维坐标，拟合三维激光平面；所述三维激光平面用于校验测量精度。根据本发明实施例，解决了利用尺寸精度不高的大型金属进行校验所造成的校验准确性较低的问题。

技术领域

本申请涉及激光测量领域，特别是涉及一种激光测量的校验方法、一种校验装置、一种校验系统、一种计算机设备和存储介质。

背景技术

工业领域内，通常通过激光三角系统对待测物体进行激光测量。具体地，激光三角系统可以向物体投射激光，并对待测物体采集二维图像，从该二维图像中确定待测物体的三维坐标，并根据物体的三维坐标计算物体的三维尺寸。

为了实现对物体进行精确的激光测量，需要对激光三角系统投射的激光进行校验。对于小视野的激光三角系统，可以采用已知尺寸的小型金属进行校验。对于大视野的激光三角系统，则需要使用大型金属进行校验。

然而，由于金属切割工艺的限制，大型金属的尺寸精度难以得到保证，采用尺寸精度不高的大型金属进行校验，校验准确性较低，影响了激光测量的精度。

因此，目前激光测量的校验方法中存在着校验准确性较低的问题。

发明内容

基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够提升校验准确性的激光测量的校验方法、装置、系统、计算机设备和存储介质。

第一方面，本发明实施例提供了一种激光测量的校验方法，包括：

获取校验图像；

获取所述校验图像对应的激光图像，并识别所述激光图像的激光点；

根据所述校验图像对应的三维参数，获取所述激光点的三维坐标；

根据所述激光点的三维坐标，拟合三维激光平面；所述三维激光平面用于校验测量精度。

第二方面，本发明实施例提供了一种激光测量的校验方法，包括：

针对校验板采集校验图像；

向所述校验板投射激光，针对所述校验板采集激光图像，并识别所述激光图像的激光点；

根据所述校验图像对应的三维参数，获取所述激光点的三维坐标；

根据所述激光点的三维坐标，拟合三维激光平面；所述三维激光平面用于校验测量精度。

第三方面，本发明实施例提供了一种校验系统，包括：

校验终端、激光测量设备、拍摄设备和校验板；

所述激光测量设备，用于向所述校验板投射激光；

所述拍摄设备，用于针对所述校验板采集校验图像和激光图像；

所述校验终端，用于识别所述激光图像的激光点，根据所述校验图像对应的三维参数，获取所述激光点的三维坐标；根据所述激光点的三维坐标，拟合三维激光平面；所述三维激光平面用于校验测量精度。

第四方面，本发明实施例提供了一种校验装置，包括：

校验图像获取模块，用于获取校验图像；

激光图像获取模块，用于获取所述校验图像对应的激光图像，并识别所述激光图像的激光点；

坐标获取模块，用于根据所述校验图像对应的三维参数，获取所述激光点的三维坐标；

拟合模块，用于根据所述激光点的三维坐标，拟合三维激光平面；所述三维激光平面用于校验测量精度。