[发明专利]一种测量小麦麸皮及其结构层真密度的方法及装置

摘要

本发明提供一种测量小麦麸皮及其结构层真密度的方法及装置，将物体放入到密闭容器内，测出连续改变密闭容器体积时对应的电压值；计算相邻状态下气体体积之比λV=(Vi‑Vx)/(Vj‑Vx)和电压差值∆U=Uj‑Ui，建立λV和∆U之间的线性函数关系式，将若干份试样分别放入密闭容器内，通过改变密闭容器体积测出对应的电压值，将相邻状态的气体体积Vi、Vj和∆U代入Vx=Vj+∆V/(A+B∆U‑1)，∆V=Vj‑Vi，分别得到试样的多组体积Vx；再测试样质量，便得到试样的真密度。本发明解决了小麦麸皮及其结构层真密度测量的难题，其测量更加精准。

主权项

1.一种测量小麦麸皮及其结构层真密度的方法，其特征在于：包括如下步骤：S1、将具有规则形状的物体放入到具有体积刻度的实验测试装置的气体密闭容器内，利用万用表测出连续改变气体密闭容器体积时所对应的电压值；S2、计算相邻状态下气体体积之比λV=(Vi‑Vx)/(Vj‑Vx)和电压差值∆U=Uj‑Ui，利用一元线性回归方法建立λV和∆U之间的线性函数关系式，即λV=A+B∆U；S3、将若干份手工剥离的小麦麸皮及其结构层试样分别放入气体密闭容器内，通过改变气体密闭容器体积测出对应的电压值，将相邻状态的气体体积Vi、Vj和∆U代入Vx=Vj+∆V/(A+B∆U‑1)，∆V=Vj‑Vi，分别得到小麦麸皮及其结构层试样的多组体积Vx；S4、再利用电子天平测出小麦麸皮及其结构层试样的质量m，将体积Vx代入密度公式ρ=m/Vx即得到多组小麦麸皮及其结构层试样的真密度，取平均值，得到小麦麸皮及其结构层的真密度参数。