[发明专利]一种五轴刀具轨迹的B样条拟合方法有效
申请号: | 201810849588.6 | 申请日: | 2018-07-28 |
公开(公告)号: | CN108958161B | 公开(公告)日: | 2020-09-08 |
发明(设计)人: | 李振瀚;闵康;黄璐璐;何姗姗;陈吉红 | 申请(专利权)人: | 华中科技大学;武汉华中数控股份有限公司 |
主分类号: | G05B19/19 | 分类号: | G05B19/19 |
代理公司: | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人: | 孔娜;曹葆青 |
地址: | 430074 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明属于数控加工相关技术领域,其公开了一种五轴刀具轨迹的B样条拟合方法,该方法包括以下步骤:S1,根据五轴离散刀具轨迹,建立五轴B样条刀具轨迹;S2,计算五轴B样条刀具轨迹的最大弦高差,并检测所述五轴B样条刀具轨迹的弦高差约束和光顺性,其中,所述五轴B样条刀具轨迹的光顺性包括刀位点B样条轨迹的光顺性、刀轴光顺性及等距精度;S3,根据得到的所述五轴B样条刀具轨迹的最大弦高差及刀位点B样条轨迹的光顺性检测结果,对所述五轴B样条刀具轨迹进行调整,以建立满足加工要求的五轴B样条刀具轨迹。本发明能全面高效地评估五轴B样条刀具轨迹的质量,且获得的刀具轨迹一定满足五轴数控机床高速高精的加工要求。 | ||
搜索关键词: | 一种 刀具 轨迹 拟合 方法 | ||
【主权项】:
1.一种五轴刀具轨迹的B样条拟合方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:S1,在六维空间中,对五轴离散刀具轨迹的离散数据点进行拟合,以建立五轴B样条刀具轨迹;S2,计算五轴B样条刀具轨迹的最大弦高差,并检测所述五轴B样条刀具轨迹的光顺性,其中,所述五轴B样条刀具轨迹的光顺性包括刀位点B样条轨迹的光顺性、刀轴光顺性及等距精度;S3,根据得到的所述五轴B样条刀具轨迹的最大弦高差及刀位点B样条轨迹光顺性的检测结果,对所述五轴B样条刀具轨迹进行调整,以建立满足加工要求的五轴B样条刀具轨迹。
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