[发明专利]一种五轴刀具轨迹的B样条拟合方法有效

专利信息
申请号: 201810849588.6 申请日: 2018-07-28
公开(公告)号: CN108958161B 公开(公告)日: 2020-09-08
发明(设计)人: 李振瀚;闵康;黄璐璐;何姗姗;陈吉红 申请(专利权)人: 华中科技大学;武汉华中数控股份有限公司
主分类号: G05B19/19 分类号: G05B19/19
代理公司: 华中科技大学专利中心 42201 代理人: 孔娜;曹葆青
地址: 430074 湖北*** 国省代码: 湖北;42
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明属于数控加工相关技术领域,其公开了一种五轴刀具轨迹的B样条拟合方法,该方法包括以下步骤:S1,根据五轴离散刀具轨迹,建立五轴B样条刀具轨迹;S2,计算五轴B样条刀具轨迹的最大弦高差,并检测所述五轴B样条刀具轨迹的弦高差约束和光顺性,其中,所述五轴B样条刀具轨迹的光顺性包括刀位点B样条轨迹的光顺性、刀轴光顺性及等距精度;S3,根据得到的所述五轴B样条刀具轨迹的最大弦高差及刀位点B样条轨迹的光顺性检测结果,对所述五轴B样条刀具轨迹进行调整,以建立满足加工要求的五轴B样条刀具轨迹。本发明能全面高效地评估五轴B样条刀具轨迹的质量,且获得的刀具轨迹一定满足五轴数控机床高速高精的加工要求。
搜索关键词: 一种 刀具 轨迹 拟合 方法
【主权项】:
1.一种五轴刀具轨迹的B样条拟合方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:S1,在六维空间中,对五轴离散刀具轨迹的离散数据点进行拟合,以建立五轴B样条刀具轨迹;S2,计算五轴B样条刀具轨迹的最大弦高差,并检测所述五轴B样条刀具轨迹的光顺性,其中,所述五轴B样条刀具轨迹的光顺性包括刀位点B样条轨迹的光顺性、刀轴光顺性及等距精度;S3,根据得到的所述五轴B样条刀具轨迹的最大弦高差及刀位点B样条轨迹光顺性的检测结果,对所述五轴B样条刀具轨迹进行调整,以建立满足加工要求的五轴B样条刀具轨迹。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华中科技大学;武汉华中数控股份有限公司,未经华中科技大学;武汉华中数控股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201810849588.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top