[发明专利]一种晶硅电池的分步式磷掺杂方法有效
申请号: | 201810787181.5 | 申请日: | 2018-07-18 |
公开(公告)号: | CN109166794B | 公开(公告)日: | 2019-10-11 |
发明(设计)人: | 丁建宁;叶枫;袁宁一 | 申请(专利权)人: | 常州大学;江苏大学 |
主分类号: | H01L21/223 | 分类号: | H01L21/223;H01L21/324;H01L31/18 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 213164 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明属于太阳能电池制造技术领域,涉及一种晶硅电池的分步式磷掺杂方法,即一次耗尽扩散结合二次高浓度浅层扩散及返刻方法。通过控制氧气流量、氮气流量和三氯氧磷流量在p型硅衬底上进行第一次低温磷源沉积,然后经过长时间的高温推进,耗尽磷硅玻璃里的磷,实现低表面浓度层n+,第二次在无磷玻璃上沉积、推进提高表面浓度,形成很薄的高浓度层n++,可以利用返刻方式很快被刻蚀掉。该方法可以独立精确控制不同区域磷掺杂分布,以保证非电极区具有低掺杂浓度,较低的复合电流,从而保证较高的开路电压;而电极区具有高掺杂浓度,与金属电极接触形成良好的欧姆接触,保证填充因子不受损失,从而整体提升电池的光电转换性能。 | ||
搜索关键词: | 磷掺杂 高效低成本 晶硅电池 分步式 沉积 耗尽 光电转换性能 太阳能电池 氮气流量 非电极区 复合电流 高浓度层 金属电极 开路电压 扩散结合 磷硅玻璃 欧姆接触 三氯氧磷 填充因子 氧气流量 整体提升 低表面 低掺杂 电极区 高掺杂 保证 衬底 低磷 刻蚀 浅层 无磷 电池 玻璃 扩散 制造 | ||
【主权项】:
1.一种晶硅电池的分步式磷掺杂方法,其特征在于:所述掺杂方法为一次耗尽扩散结合二次高浓度浅层扩散及返刻方法,具体为:控制氧气流量、氮气流量和三氯氧磷的流量在p型硅衬底上进行第一次低温磷源沉积,经过长时间的高温推进,耗尽磷硅玻璃里的磷,完成一次耗尽扩散,形成低表面浓度层n+;然后在无磷成分的玻璃上第二次低温沉积高浓度磷源,经过第二次推进提高表面浓度,形成高浓度层n++,最后通过化学返刻刻蚀掉没有被保护的非电极区部分的高浓度层。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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