[发明专利]显示屏质量检测方法、装置、电子设备及存储介质在审
申请号: | 201810709847.5 | 申请日: | 2018-07-02 |
公开(公告)号: | CN109064446A | 公开(公告)日: | 2018-12-21 |
发明(设计)人: | 文亚伟;冷家冰;刘明浩;徐玉林;郭江亮;李旭 | 申请(专利权)人: | 北京百度网讯科技有限公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06K9/62 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 杨泽;刘芳 |
地址: | 100085 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本申请提供一种显示屏质量检测方法、装置、电子设备及存储介质,其中,该方法包括:接收部署在显示屏生产线上的控制台发送的质量检测请求,该质量检测请求中包含显示屏生产线上的图像采集设备采集的显示屏图像,将该显示屏图像输入到缺陷分类模型中得到缺陷分类结果,该缺陷分类模型是采用深度卷积神经网络结构和图像分类算法对历史缺陷显示屏图像进行训练得到的,根据该缺陷分类结果确定上述显示屏图像对应的显示屏的质量好坏。该技术方案的缺陷检测准确度高、系统性能好,业务扩展能力高。 | ||
搜索关键词: | 显示屏图像 显示屏 质量检测 缺陷分类结果 存储介质 电子设备 缺陷分类 神经网络结构 图像采集设备 控制台 历史缺陷 缺陷检测 图像分类 系统性能 业务扩展 质量好坏 准确度 卷积 算法 采集 发送 申请 部署 | ||
【主权项】:
1.一种显示屏质量检测方法,其特征在于,包括:接收部署在显示屏生产线上的控制台发送的质量检测请求,所述质量检测请求中包含所述显示屏生产线上的图像采集设备采集的显示屏图像;将所述显示屏图像输入到缺陷分类模型中得到缺陷分类结果,其中,所述缺陷分类模型是采用深度卷积神经网络结构和图像分类算法对历史缺陷显示屏图像进行训练得到的;根据所述缺陷分类结果确定所述显示屏图像对应的显示屏的质量好坏。
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