[发明专利]一种均质面板缺陷的检测方法在审

专利信息
申请号: 201810675848.2 申请日: 2018-06-27
公开(公告)号: CN108898594A 公开(公告)日: 2018-11-27
发明(设计)人: 舒军;蒋明威;吴柯;杨露;沈开斌;涂杏;李鑫武;舒心怡;潘健;王淑青 申请(专利权)人: 湖北工业大学
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/60;G06N3/04
代理公司: 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 代理人: 魏波
地址: 430068 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种均质面板缺陷的检测方法,首先将原始图片分成R、G、B三个单通道图像;然后对R通道图像进行阈值分割,得到目标区域;根据阈值结果定位物体,获取目标区域的圆心;根据缺陷特征对目标区域进行多尺寸分割;接着对步骤4中进行多尺寸分割后的图像,采用卷积网络进行分类运算,获取正负样本的分类结果;最后步骤6:进行均质面板缺陷检测。本发明提出了一种基于图像的特征分块方法,增大样本的同时减少了环境噪声污染。设计了一种多尺寸图像的输入网络,对于不同尺寸的图像大大减少了因为统一尺寸造成的信息丢失问题。
搜索关键词: 图像 面板缺陷 均质 目标区域 检测 环境噪声污染 圆心 尺寸图像 定位物体 分类结果 获取目标 缺陷特征 输入网络 特征分块 信息丢失 原始图片 正负样本 阈值分割 单通道 分割 卷积 运算 样本 分类 网络 统一
【主权项】:
1.一种均质面板缺陷的检测方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1:将原始图片分成R、G、B三个单通道图像;步骤2:对R通道图像进行阈值分割,得到目标区域;步骤3:根据阈值结果定位物体,获取目标区域的圆心;步骤4:根据缺陷特征对目标区域进行多尺寸分割;步骤5:对步骤4中进行多尺寸分割后的图像,输入加入SPP层的卷积网络进行分类运算,获取正负样本的分类结果;步骤6:进行均质面板缺陷检测。
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