[发明专利]交叉轨迹分析方法及装置、电子设备和存储介质有效
| 申请号： | 201810558528.9 | 申请日： | 2018-06-01 |
| 公开（公告）号： | CN108876817B | 公开（公告）日： | 2021-08-20 |
| 发明（设计）人： | 王晶;张广程;李蔚琳;朱斌 | 申请（专利权）人： | 深圳市商汤科技有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/246 | 分类号： | G06T7/246;G06T7/20 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 刘新宇 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本公开涉及一种交叉轨迹分析方法及装置、电子设备和存储介质，所述方法包括：在待分析图像中确定目标对象的目标图像，所述待分析图像包括时间信息和地点信息；根据所述待分析图像的时间信息和地点信息，确定所述目标图像的时间信息和地点信息；根据所述目标图像的时间信息和地点信息得到所述目标对象的轨迹；根据多个所述目标对象的轨迹得到多个所述目标对象的交叉轨迹。本公开实施例利用各目标对象的目标图像得到的交叉轨迹的精度高，定位准确。 | ||
| 搜索关键词： | 交叉 轨迹 分析 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
1.一种交叉轨迹分析方法，其特征在于，所述方法包括：在待分析图像中确定目标对象的目标图像，所述待分析图像包括时间信息和地点信息；根据所述待分析图像的时间信息和地点信息，确定所述目标图像的时间信息和地点信息；根据所述目标图像的时间信息和地点信息得到所述目标对象的轨迹；根据多个所述目标对象的轨迹得到多个所述目标对象的交叉轨迹。
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