[发明专利]一种用于测序芯片清洗的试剂及其制备方法和应用有效

专利信息
申请号: 201810542121.7 申请日: 2018-05-30
公开(公告)号: CN108913376B 公开(公告)日: 2020-11-24
发明(设计)人: 刘晨;黄金;田志坚;许振朋;丁芬;吴昊 申请(专利权)人: 武汉华大医学检验所有限公司
主分类号: C11D1/66 分类号: C11D1/66;C11D3/04;C11D3/20;C11D3/33;C11D3/37;C11D3/60
代理公司: 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司 44281 代理人: 李小焦;彭家恩
地址: 430073 湖北省武汉市东湖开发区高新大道*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 本申请公开了一种用于测序芯片清洗的试剂及其制备方法和应用。本申请用于测序芯片清洗的试剂,包含柠檬醇、皂角提取液、氢氧化钾、EDTA、环氧大豆油、聚醚改性硅油、乙醇和纯水。本申请的测序芯片清洗试剂,针对测序芯片的油污等污染源设计其组分,并采用多种植物提取物作为活性去污剂,试剂中各组分相配合能有效的对测序芯片进行清洗,去除其表面油污等杂质,清洗后不留斑,不起雾,清洗效果好。并且,本申请的试剂,不含氯化物和低芳香烃,主要活性成份为植物提取物,环保、安全、稳定,不含任何卤素成份,因此不会破坏臭氧层;为测序芯片提供了一种专用的清洗试剂。
搜索关键词: 一种 用于 芯片 清洗 试剂 及其 制备 方法 应用
【主权项】:
1.一种用于测序芯片清洗的试剂,其特征在于:包含柠檬醇、皂角提取液、氢氧化钾、EDTA、环氧大豆油、聚醚改性硅油、乙醇和纯水。
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