[发明专利]一种集成电路测试探针卡及测试系统保护结构在审
| 申请号： | 201810517740.0 | 申请日： | 2018-05-25 |
| 公开（公告）号： | CN108717159A | 公开（公告）日： | 2018-10-30 |
| 发明（设计）人： | 顾良波;凌俭波;岳小兵;王锦;季海英 | 申请（专利权）人： | 上海华岭集成电路技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人： | 智云 |
| 地址： | 201203 上海市浦*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种集成电路测试探针卡及测试系统保护结构，所述集成电路测试系统保护结构包括保护件和转接件，所述保护件包括熔断件和两个引脚，所述熔断件两端各连接一个所述引脚，所述熔断件的最大耐流值小于探针卡的最大耐流值，所述转接件包括第一转接件和第二转接件，所述第一转接件和所述第二转接件均设置有过孔，所述引脚可拆卸式对应连接所述过孔。本发明提供的集成电路测试探针卡及测试系统保护结构中，通过保护件中的熔断件的熔断来起到保护作用，同时采用具有过孔的转接件与保护件的引脚相连接，从而不需要拆卸探针卡，不需要额外的专业技术，更换探针卡上的保护件速度快，节省大量时间，由于更换方便，可节省人力、物力，节约了成本。 | ||
| 搜索关键词： | 转接件 探针卡 保护件 保护结构 熔断件 引脚 集成电路测试 测试系统 集成电路测试系统 熔断 可拆卸式 专业技术 拆卸 节约 | ||
【主权项】：
1.一种集成电路测试系统保护结构，其特征在于，所述集成电路测试系统保护结构包括：保护件，所述保护件包括熔断件和两个引脚，所述熔断件两端各连接一个所述引脚，所述熔断件的最大耐流值小于探针卡的最大耐流值；转接件，所述转接件包括第一转接件和第二转接件，所述第一转接件和所述第二转接件均设置有过孔，所述引脚可拆卸式对应连接所述过孔。
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