[发明专利]一种逆反射材料测量装置在审
| 申请号： | 201810517423.9 | 申请日： | 2018-05-25 |
| 公开（公告）号： | CN108534995A | 公开（公告）日： | 2018-09-14 |
| 发明（设计）人： | 杨宗文 | 申请（专利权）人： | 北京中交工程仪器研究所 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;G01J1/00 |
| 代理公司： | 北京维正专利代理有限公司 11508 | 代理人： | 杨叁 |
| 地址： | 102600 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种逆反射材料测量装置，其技术方案要点是：包括光源发生器、用于放置逆反射材料的支撑架、与支撑架处于同一竖直面内的照度计以及与光源发生器处于同一竖直面内且用于检测由逆反射材料反射出的光的光度计，支撑架的下方设置有与支撑架的底部滑移连接的第一滑轨，照度计的下方设置有用于使照度计与支撑架支撑逆反射材料的中心位置处于同一水平面的第一支架，光源发生器的下方设置有用于支撑光源发生器的第二支架，光度计的下方设置有第三支架，第三支架的下方设置有分别与第二支架和第三支架的底部滑移连接的第二滑轨，第一滑轨和第二滑轨相互平行。其优点是该测量装置能够精准获取该逆反射材料的检测数据。 | ||
| 搜索关键词： | 逆反射材料 支架 支撑架 光源发生器 滑轨 测量装置 照度计 同一竖直面 滑移连接 光度计 技术方案要点 同一水平面 检测数据 支撑 反射 平行 检测 | ||
【主权项】：
1.一种逆反射材料测量装置，其特征是：包括提供光源的光源发生器(1)、位于光源发生器(1)的发射头一侧且用于放置检测材料的支撑架(2)、与支撑架(2)处于同一竖直面内且用于检测材料所在位置处的照度的照度计(3)、与光源发生器(1)处于同一竖直面内且用于检测由检测材料反射出的光的光度计(4)，所述支撑架(2)的下方设置有与支撑架(2)的底部滑移连接的第一滑轨(51)，照度计(3)的下方设置有用于支撑照度计(3)的第一支架(31)，第一支架(31)的底端与第一滑轨(51)滑移连接，所述光源发生器(1)的下方设置有用于支撑光源发生器(1)的第二支架(11)，光度计(4)的下方设置有用于支撑光度计(4)的第三支架(41)，第三支架(41)的下方设置有分别与第二支架(11)和第三支架(41)的底部滑移连接的第二滑轨(52)，第一滑轨(51)和第二滑轨(52)相互平行，所述第二滑轨(52)上设置有用于检测第二滑轨(52)和第一滑轨(51)相对距离的激光测距仪(6)。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京中交工程仪器研究所，未经北京中交工程仪器研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201810517423.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
