[发明专利]一种逆反射材料测量装置在审

专利信息
申请号: 201810517423.9 申请日: 2018-05-25
公开(公告)号: CN108534995A 公开(公告)日: 2018-09-14
发明(设计)人: 杨宗文 申请(专利权)人: 北京中交工程仪器研究所
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02;G01J1/00
代理公司: 北京维正专利代理有限公司 11508 代理人: 杨叁
地址: 102600 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 逆反射材料 支架 支撑架 光源发生器 滑轨 测量装置 照度计 同一竖直面 滑移连接 光度计 技术方案要点 同一水平面 检测数据 支撑 反射 平行 检测
【权利要求书】:

1.一种逆反射材料测量装置,其特征是:包括提供光源的光源发生器(1)、位于光源发生器(1)的发射头一侧且用于放置检测材料的支撑架(2)、与支撑架(2)处于同一竖直面内且用于检测材料所在位置处的照度的照度计(3)、与光源发生器(1)处于同一竖直面内且用于检测由检测材料反射出的光的光度计(4),所述支撑架(2)的下方设置有与支撑架(2)的底部滑移连接的第一滑轨(51),照度计(3)的下方设置有用于支撑照度计(3)的第一支架(31),第一支架(31)的底端与第一滑轨(51)滑移连接,所述光源发生器(1)的下方设置有用于支撑光源发生器(1)的第二支架(11),光度计(4)的下方设置有用于支撑光度计(4)的第三支架(41),第三支架(41)的下方设置有分别与第二支架(11)和第三支架(41)的底部滑移连接的第二滑轨(52),第一滑轨(51)和第二滑轨(52)相互平行,所述第二滑轨(52)上设置有用于检测第二滑轨(52)和第一滑轨(51)相对距离的激光测距仪(6)。

2.根据权利要求1所述的一种逆反射材料测量装置,其特征是:所述第一滑轨(51)和第二滑轨(52)的下方均固定设置有一块水平放置的支撑面板(53)。

3.根据权利要求1所述的一种逆反射材料测量装置,其特征是:所述第一滑轨(51)上设置有用于使照度计(3)精准测量检测材料所在的检测位置受到的照度强度的激光定位组件(7)。

4.根据权利要求3所述的一种逆反射材料测量装置,其特征是:所述激光定位组件(7)包括定位架(72)、水平激光发生器(711)、竖直激光发生器(712),所述定位架(72)由竖直部(721)、第一水平部(722)、与第一滑轨(51)滑移连接的第二水平部(723)的组成,竖直部(721)的底部与第二水平部(723)的一端固定连接,竖直部(721)的顶部与第一水平部(722)的一端固定连接,所述水平激光发生器(711)的尾部设置有用于调节水平激光发生器(711)与定位架(72)相对位置的第一调位单元(73),所述竖直激光发生器(712)的尾部设置有用于调节竖直激光发生器(712)与定位架(72)相对位置的第二调位单元(74),所述第一调位单元(73)包括滑块(731)、用于将滑块(731)固定到定位架(72)上的定位单元(732)。

5.根据权利要求4所述的一种逆反射材料测量装置,其特征是:所述竖直部(721)朝向支撑架(2)的内侧开设有导向滑槽(724),滑块(731)的中间位置插入导向滑槽(724)内与竖直部(721)滑移连接,所述竖直部(721)两侧壁竖直开设有与滑槽连通的条形通孔(725),所述定位单元(732)包括通过条形通孔(725)贯穿竖直部(721)且同时贯穿插入导向滑槽(724)内的滑块(731)的单头螺栓(7321)、与单头螺栓(7321)的一端螺纹连接的螺母(7322)。

6.根据权利要求5所述的一种逆反射材料测量装置,其特征是:所述滑块(731)朝向支撑架(2)的侧面水平开设有调位滑槽(7311),水平激光发生器(711)的尾部插入调位滑槽(7311)内与滑块(731)滑移连接,滑块(731)上还设置有用于将水平激光发生器(711)固定在滑块(731)上的固定单元(7312)。

7.根据权利要求1所述的一种逆反射材料测量装置,其特征是:所述支撑架(2)包括用于承托逆反射材料的承托组件(21)、位于承托组件(21)下方且与第一滑轨(51)滑移连接的底座(23)、用于调节逆反射材料与光源发生器(1)相对位置关系的调位模块(22)。

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