[发明专利]掩模组件和用于制造芯片封装件的方法有效
申请号: | 201810460875.8 | 申请日: | 2018-05-15 |
公开(公告)号: | CN109427658B | 公开(公告)日: | 2020-11-20 |
发明(设计)人: | 陈洁;陈宪伟;刘醇鸿;陈英儒 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/768 | 分类号: | H01L21/768;G03F9/00 |
代理公司: | 北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409 | 代理人: | 章社杲;李伟 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 依次提供第一掩模和第二掩模以实施多步曝光和显影工艺。通过第一掩模和第二掩模的适当的重叠设计,形成具有可接受重叠偏移的导电布线。本发明的实施例还涉及掩模组件和用于制造芯片封装件的方法。 | ||
搜索关键词: | 模组 用于 制造 芯片 封装 方法 | ||
【主权项】:
1.一种用于制造导电布线的方法,包括:图案化光刻胶层,包括:提供包括第一布局图案的第一掩模;实施经由所述第一掩模的第一曝光工艺和第一显影工艺,以在所述光刻胶层的第一部分中形成多个第一布线开口,并且所述光刻胶层的第一部分由所述第一掩模覆盖;提供包括第二布局图案的第二掩模;实施经由所述第二掩模的第二曝光工艺和第二显影工艺,以在所述光刻胶层的第二部分中形成多个第二布线开口,所述光刻胶层的第一部分和第二部分的重叠部分由所述第二掩模覆盖,所述第一布线开口和所述第二布线开口在所述重叠部分处连通,并且当实施所述第二曝光工艺时,所述第二掩模的所述第二布局图案与形成在所述光刻胶层中的所述第一布线开口对准;以及在所述第一布线开口和所述第二布线开口中形成导电布线。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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