[发明专利]基板盲区缺陷检测方法、装置、计算机和存储介质有效
| 申请号： | 201810373360.4 | 申请日： | 2018-04-24 |
| 公开（公告）号： | CN108734700B | 公开（公告）日： | 2021-06-11 |
| 发明（设计）人： | 方宇立;刘力明;黄伟东;李建华 | 申请（专利权）人： | 信利（惠州）智能显示有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 叶剑 |
| 地址： | 516029 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种基板盲区缺陷检测方法、装置、计算机和存储介质。所述方法包括：获取基板图像；解析所述基板图像，区分所述基板图像上的检测盲区和图形区；检测所述图形区的缺陷；基于所述图形区，对所述检测盲区在所述基板图像上的位置进行校正；检测所述检测盲区的缺陷。通过首先区分基板图像上的检测盲区和图形区，并对检测盲区的位置进行校正，使得能够对检测盲区进行单独检测，进而提高了对检测盲区的缺陷的检测精度，从而提高了对图形区边缘上的检测精度，有效避免误检和漏检，使得对基板的检测效果更佳，且使得检测成本较低。 | ||
| 搜索关键词： | 盲区 缺陷 检测 方法 装置 计算机 存储 介质 | ||
【主权项】：
1.一种基板盲区缺陷检测方法，其特征在于，包括：获取基板图像；解析所述基板图像，区分所述基板图像上的检测盲区和图形区；检测所述图形区的缺陷；基于所述图形区，对所述检测盲区在所述基板图像上的位置进行校正；检测所述检测盲区的缺陷。
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