[发明专利]检验X射线检验系统中轮胎元件方位的方法、系统及应用有效
| 申请号： | 201810369517.6 | 申请日： | 2018-04-24 |
| 公开（公告）号： | CN108827985B | 公开（公告）日： | 2022-09-06 |
| 发明（设计）人： | K·科赫 | 申请（专利权）人： | 依科视朗国际有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04 |
| 代理公司： | 深圳市百瑞专利商标事务所(普通合伙) 44240 | 代理人： | 金辉 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及用于以伦琴射线检验系统1来检验某一轮胎类型的轮胎90元件99方位的方法，包括如下步骤：使用该轮胎类型的轮胎90的三维模型，在该模型中，描述了轮胎90元件99的可能方位；拍摄轮胎90的元件99的二维伦琴射线图像，其由如下像素点33构成，像素点由从伦琴管10穿过元件99至伦琴射线探测器15的向量35来描述；将元件99的来自二维伦琴射线图像的像素点33分配给轮胎90的三维模型，其中，穿过伦琴管10的直线和来自带有三维模型的元件99的可能方位的二维伦琴射线图像的像素点33的向量35的交点作为空间中的点，分配给像素点33。 | ||
| 搜索关键词： | 检验 射线 系统 轮胎 元件 方位 方法 应用 | ||
【主权项】：
1.用于以伦琴射线检验系统(1)来检验某一轮胎类型的轮胎(90)元件(99)方位的方法，其中，所述伦琴射线检验系统(1)具有伦琴管(10)、线形伦琴射线探测器(15)和操纵器，并且包括如下步骤：‑使用所述轮胎类型的轮胎(90)的三维模型，在所述模型中，描述了轮胎(90)元件(99)的可能方位，‑拍摄轮胎(90)元件(99)的二维伦琴射线图像，所述二维伦琴射线图像由如下像素点(33)构成，所述像素点由从伦琴管(10)穿过元件(99)至伦琴射线探测器(15)的向量(35)来描述，‑将元件(99)的来自二维伦琴射线图像的像素点(33)分配给轮胎(90)的三维模型，其中，穿过伦琴管(10)的直线和来自带有三维模型的元件(99)的可能方位的二维伦琴射线图像的像素点(33)的向量(35)的交点作为空间中的点，分配给像素点(33)。
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