[发明专利]检验X射线检验系统中轮胎元件方位的方法、系统及应用

权利要求书

1.用于以伦琴射线检验系统(1)来检验某一轮胎类型的轮胎(90)元件(99)方位的方法，其中，所述伦琴射线检验系统(1)具有伦琴管(10)、线形伦琴射线探测器(15)和操纵器，并且包括如下步骤：

-使用所述轮胎类型的轮胎(90)的三维模型，在所述三维模型中，描述了轮胎(90)元件(99)的可能方位，

-拍摄轮胎(90)元件(99)的二维伦琴射线图像，所述二维伦琴射线图像由如下像素点(33)构成，所述像素点由从伦琴管(10)穿过元件(99)至伦琴射线探测器(15)的向量(35)来描述，

-将元件(99)的来自二维伦琴射线图像的像素点(33)分配给轮胎(90)的三维模型，其中，穿过伦琴管(10)的直线和二维伦琴射线图像的像素点(33)的向量(35)与三维模型的交点作为元件(99)的可能方位的空间中的点，分配给像素点(33)，

其中，随后，在轮胎(90)模型的三维空间中沿任意的测量路线测量在元件(99)空间中的两个点的间距。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述测量路线沿轮胎(90)的束腰层的横截面或者在轮胎(90)的横截面中水平地延伸。

3.根据权利要求1所述的方法，其中，所述元件(99)是束腰的胎体线。

4.根据权利要求1所述的方法，其中，即使在元件(99)沿两个方向的可能移动的情况下，轮胎(90)的三维模型中的元件(99)的可能方位也推测地描述了元件(99)的方位。

5.根据权利要求1所述的方法，其中，在轮胎(90)的多个定位中拍摄轮胎(90)的元件(99)的二维伦琴射线图像，其中所述轮胎利用到操纵器。

6.一种伦琴射线检验系统(1)，其具有伦琴管(10)、线形伦琴射线探测器(15)和操纵器，还具有控制装置，所述控制装置设定用于实施根据权利要求1至5中任一项所述的用于检验轮胎(90)元件(99)方位的方法。

7.根据权利要求6所述的用于执行根据权利要求1至5中任一项所述的方法的伦琴射线检验系统的应用。