[发明专利]一种高可靠玻璃钝化高压硅堆的制造方法在审
申请号: | 201810353181.4 | 申请日: | 2018-04-19 |
公开(公告)号: | CN108493107A | 公开(公告)日: | 2018-09-04 |
发明(设计)人: | 王志敏;黄丽凤 | 申请(专利权)人: | 如皋市大昌电子有限公司 |
主分类号: | H01L21/329 | 分类号: | H01L21/329;H01L21/50;H01L25/07 |
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地址: | 226578 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种高可靠玻璃钝化高压硅堆的制造方法,包括如下步骤:1)备材及处理:将所述管芯进行磷纸烧除及磷预沉积,对所述管芯的单面进行喷砂涂硼扩散,再对所述管芯的双面进行喷砂,然后对其进行清洗氧化;2)一次光刻、开沟及清洗:一次光刻,光刻胶采用高抗蚀性光刻胶,所述管芯背面也要用胶保护;一次光刻完毕后,进行开沟作业,开沟要在冷冻环境下进行,温度不可超过18℃,台面的温度要控制在33℃左右;开沟完成后通过混合酸进行三次清洗,温度要控制在70~85℃,时间各15min,清洗后再利用大量去离子水冲洗;3)玻璃胶的配制及二次光刻,该制造方法,有利于大幅度提高高压硅堆的生产效率。 | ||
搜索关键词: | 开沟 高压硅堆 一次光刻 管芯 清洗 玻璃钝化 高可靠 光刻胶 喷砂 制造 管芯背面 冷冻环境 去离子水 三次清洗 生产效率 玻璃胶 二次光 混合酸 预沉积 再利用 备材 高抗 磷纸 烧除 涂硼 冲洗 配制 扩散 | ||
【主权项】:
1.一种高可靠玻璃钝化高压硅堆的制造方法,高压硅堆包括保护罩(1)、电极引线(2)、钨电极(3)、管芯(4)和芯片(5);其制作方法包括以下步骤,其特征在于:1)备材及处理:将所述管芯(4)进行磷纸烧除及磷预沉积,对所述管芯(4)的单面进行喷砂涂硼扩散,再对所述管芯(4)的双面进行喷砂,然后对其进行清洗氧化;2)一次光刻、开沟及清洗:一次光刻,光刻胶采用高抗蚀性光刻胶(环化橡胶类,粘度为450以上),所述管芯(4)背面也要用胶保护;一次光刻完毕后,进行开沟作业,开沟要在冷冻环境下进行,温度不可超过18℃,台面的温度要控制在33℃左右;开沟完成后通过混合酸进行三次清洗,温度要控制在70~85℃,时间各15min,清洗后再利用大量去离子水冲洗;3)玻璃胶的配制及二次光刻:采用光刻胶和玻璃粉比例混合,球磨而成玻璃胶,球磨时间一般不少于4小时;玻璃胶配制好后就可进行二次光刻,其上玻璃胶、前烘、曝光等工艺与一次光刻相同,关键是显影、定影,这种用光刻胶配制的玻璃胶显影需用显影机,显影液是通过喷枪到晶片表面,将未曝光的玻璃胶去除干净,只保留PN结侧面上的玻璃胶;4)玻璃烧结和镀膜:二次光刻上玻璃胶,显影烘干后,进行玻璃烧结钝化,玻璃网膜形成后,再进行镀膜,即在玻璃网膜之上淀积一层二氧化硅保护膜;5)三次光刻、镀镍和镀金:三次光刻除去引线孔上的二氧化硅层,再进行镀镍,二次镀镍后再进行镀金,由玻璃胶、二氧化硅层、镀镍层和镀金层形成所述保护罩(1);6)切割和裂片:将所述管芯(4)镀金后,经检验合格进行切割形成所述芯片(5),采用冷冻裂片,将切割好的所述芯片(5)用去离子水贴到冷冻机的不锈钢板上,30min后将蓝膜取下,所述芯片(5)就粘到不锈钢板上,然后用去离子水将所述芯片(5)冲到筛网里,用异丙醇脱水、烘干即可;7)再将含有所述钨电极(3)的所述电极引线(2)焊接在所述芯片(5)的两端。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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