[发明专利]一种基于硅超表面太赫兹反射镜在审
申请号: | 201810332600.6 | 申请日: | 2018-04-13 |
公开(公告)号: | CN108549123A | 公开(公告)日: | 2018-09-18 |
发明(设计)人: | 宋争勇 | 申请(专利权)人: | 厦门大学 |
主分类号: | G02B5/08 | 分类号: | G02B5/08;G02B1/10;H01Q15/00;H01Q15/14 |
代理公司: | 厦门南强之路专利事务所(普通合伙) 35200 | 代理人: | 马应森 |
地址: | 361005 *** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | 一种基于硅超表面太赫兹反射镜,涉及光学元件。由介质块和二氧化硅衬底组成,所述介质块为立方体介质块,所述立方体介质块按周期性排列,每一立方体介质块的尺寸相同。所述立方体介质块宽度为170μm,周期为240μm。工作原理是入射波激发电介质米氏共振引起电场的强耦合效果,从而实现了宽带全部反射。对极化不敏感,TE和TM波入射均可达到相同的全反射效果,并且可以通过改变几何尺寸进行调整通过控制电磁波的传播实现对入射波全反射。结构简单,适用范围广泛,对入射波的极化方式不敏感,在光电器件设计等方面具有广泛的应用价值。 | ||
搜索关键词: | 介质块 入射波 反射镜 全反射 电介质 极化不敏感 周期性排列 二氧化硅 工作原理 光电器件 光学元件 极化方式 电场 不敏感 电磁波 强耦合 衬底 共振 宽带 米氏 入射 反射 激发 传播 应用 | ||
【主权项】:
1.一种基于硅超表面太赫兹反射镜,其特征在于由介质块和二氧化硅衬底组成,所述介质块为立方体介质块,所述立方体介质块按周期性排列,每一立方体介质块的尺寸相同。
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