[发明专利]一种基于硅超表面太赫兹反射镜在审
| 申请号： | 201810332600.6 | 申请日： | 2018-04-13 |
| 公开（公告）号： | CN108549123A | 公开（公告）日： | 2018-09-18 |
| 发明（设计）人： | 宋争勇 | 申请（专利权）人： | 厦门大学 |
| 主分类号： | G02B5/08 | 分类号： | G02B5/08;G02B1/10;H01Q15/00;H01Q15/14 |
| 代理公司： | 厦门南强之路专利事务所(普通合伙) 35200 | 代理人： | 马应森 |
| 地址： | 361005 *** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 介质块 入射波 反射镜 全反射 电介质 极化不敏感 周期性排列 二氧化硅 工作原理 光电器件 光学元件 极化方式 电场 不敏感 电磁波 强耦合 衬底 共振 宽带 米氏 入射 反射 激发 传播 应用 | ||
【权利要求书】：
1.一种基于硅超表面太赫兹反射镜，其特征在于由介质块和二氧化硅衬底组成，所述介质块为立方体介质块，所述立方体介质块按周期性排列，每一立方体介质块的尺寸相同。
2.如权利要求1所述一种基于硅超表面太赫兹反射镜，其特征在于所述立方体介质块可采用硅立方体介质块。
3.如权利要求1所述一种基于硅超表面太赫兹反射镜，其特征在于所述立方体介质块的宽度、长度和厚度均为170μm，周期为240μm。
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