[发明专利]基于自整流特性材料的二维超快准非易失存储器及其制备方法在审
申请号: | 201810309047.4 | 申请日: | 2018-04-09 |
公开(公告)号: | CN108649031A | 公开(公告)日: | 2018-10-12 |
发明(设计)人: | 周鹏;侯翔;高春雷;张卫 | 申请(专利权)人: | 复旦大学 |
主分类号: | H01L27/115 | 分类号: | H01L27/115;H01L27/11563;H01L27/11568;H01L27/11578 |
代理公司: | 上海正旦专利代理有限公司 31200 | 代理人: | 陆飞;陆尤 |
地址: | 200433 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明属于存储器技术领域,具体为一种基于自整流特性材料的二维超快准非易失存储器及其制备方法。本发明利用具有自整流特性的材料替代传统闪存(Flash)的沟道与隧穿层,通过此材料的开关特性,取代传统电荷的隧穿机制实现超快写入与准非易失存储。本发明制备,包括先在衬底上利用机械剥离或者化学气相沉积获得作为电荷存储层的二维材料,然后利用分子束外延生长自整流特性材料CrX3作为器件沟道以及开关。本发明可以制备具有超快写入能力以及准非易失特性的新型存储器,弥补了动态随机存储器与闪存存储器之间的数据存储时间跨度,在未来存储器领域具有巨大的应用前景。 | ||
搜索关键词: | 自整流 制备 特性材料 非易失存储器 二维 写入 存储器技术领域 动态随机存储器 化学气相沉积 存储器领域 电荷存储层 非易失存储 分子束外延 闪存存储器 新型存储器 材料替代 传统电荷 二维材料 机械剥离 机制实现 开关特性 器件沟道 时间跨度 数据存储 非易失 隧穿层 衬底 沟道 闪存 隧穿 生长 应用 | ||
【主权项】:
1.一种基于自整流特性材料的二维超快准非易失存储器,其特征在于,包括:一带有氧化绝缘层的高掺杂硅衬底;衬底上制备的第一层二维材料薄膜;在第一层二维材料上生长的第二层二维自整流特性材料;第二层二维自整流特性材料上生长的有一定图形的金属电极。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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