[发明专利]电子装置在审
申请号: | 201810305269.9 | 申请日: | 2018-04-08 |
公开(公告)号: | CN109240955A | 公开(公告)日: | 2019-01-18 |
发明(设计)人: | 大野智之;橳岛正起;桥本贵之;大上俊 | 申请(专利权)人: | 富士施乐株式会社 |
主分类号: | G06F13/362 | 分类号: | G06F13/362;G06F15/78 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 吕俊刚;杨薇 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 一种电子装置包括存储器、多个主电路、传输路径、检测单元和重置控制单元。所述多个主电路从存储器读取数据以及将数据写入存储器中。在缓冲并仲裁多个指令和数据的同时通过所述传输路径发送所述指令和数据。检测单元检测传输路径中的缓冲器溢位。重置控制单元针对传输路径的受缓冲器溢位影响的部分以及所述多个主电路中受缓冲器溢位影响的主电路执行重置控制。 | ||
搜索关键词: | 传输路径 主电路 缓冲器 溢位 重置控制单元 电子装置 存储器读取数据 数据写入存储器 指令 存储器 单元检测 检测 缓冲 重置 仲裁 发送 | ||
【主权项】:
1.一种电子装置,该电子装置包括:存储器;多个主电路,所述多个主电路从所述存储器读取数据以及将数据写入所述存储器中;传输路径,在缓冲并仲裁多个指令和数据的同时通过该传输路径发送所述指令和所述数据;检测单元,该检测单元检测所述传输路径中的缓冲器溢位;以及重置控制单元,该重置控制单元针对所述传输路径的受所述缓冲器溢位影响的部分以及所述多个主电路中受所述缓冲器溢位影响的主电路执行重置控制。
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