[发明专利]电池片黑心检测方法在审
申请号: | 201810232650.7 | 申请日: | 2018-03-20 |
公开(公告)号: | CN108807206A | 公开(公告)日: | 2018-11-13 |
发明(设计)人: | 李华超;王小彬 | 申请(专利权)人: | 苏州巨能图像检测技术有限公司 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 215300 江苏省苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明电池片黑心检测方法,包括如下步骤:S1)对准:将电池片移到图像中心;S2)剔除其他干扰;S3)圆环投影;S4)特征曲线提取;S5)分类。先对电池片进行定位,将电池片中心和图像中心重合,便于投影以及罩mask(罩板)图像。为了使投影后的曲线更能体现黑心的特征,需要将其他缺陷屏蔽掉,即不参加投影。然后以电池片中心为圆心,进行“圆环投影”,将二维的信号转成一维的曲线进行分析;接着针对曲线进行特征提取。最后分析特征,判断是否存在黑心缺陷。 | ||
搜索关键词: | 投影 电池片 电池片中心 图像中心 圆环 圆心 黑心缺陷 特征曲线 特征提取 检测 重合 二维 屏蔽 罩板 剔除 对准 分析 图像 分类 | ||
【主权项】:
1.一种电池片黑心检测方法,其特征在于:包括如下步骤:S1)对准:将电池片移到图像中心;S2)剔除其他干扰;S3)圆环投影;S4)特征曲线提取;S5)分类;其中:S3)的具体步骤如下:D1)产生一副距离图像:中间20个像素为半径的圆,此圆的距离都为1;然后向外一个像素增加1,这样产生出距离图;D2)从左到右,从上到下,开始扫描图像;D3)将原始图像有效部分的灰度值累加到对应距离的数组下,同时记录累计的个数;D4)扫描完成后,使用累计的个数进行归一化,生成归一化的投影曲线,完成了环形投影。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造