[发明专利]用于射频测试的焊垫结构在审
申请号: | 201810232268.6 | 申请日: | 2018-03-20 |
公开(公告)号: | CN110312367A | 公开(公告)日: | 2019-10-08 |
发明(设计)人: | 许闵郁;蔡承宗;赖明安;苏家弘 | 申请(专利权)人: | 明泰科技股份有限公司 |
主分类号: | H05K1/18 | 分类号: | H05K1/18 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 曹玲柱 |
地址: | 中国台湾新竹科*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供一种用于射频测试的焊垫结构,包括一基板本体,其中,该基板本体为绝缘材质,其正面设有一内导体焊接区与一第一接地区,该内导体焊接区与第一接地区两者间设有一第一绝缘层,以避免短路,该基板本体的背面设有一顶针抵靠区与一第二接地区,该第二接地区与顶针抵靠区两者间会形成一间隙,以避免短路,又,该内导体焊接区与顶针抵靠区两者设有相连通且能电气连接的贯穿孔,如此,测量信号时仅需将射频同轴缆线的内导体与外导体依序焊接至该内导体焊接区、第一接地区,并使一信号测试端的顶针与接地部依序抵靠至该顶针抵靠区、第二接地区,便能够进行后续测试程序。 | ||
搜索关键词: | 接地区 顶针 内导体 焊接区 基板本体 焊垫结构 射频测试 短路 绝缘层 测量信号 测试程序 电气连接 绝缘材质 同轴缆线 信号测试 贯穿孔 接地部 外导体 射频 焊接 背面 | ||
【主权项】:
1.一种用于射频测试的焊垫结构,包括:一基板本体,为绝缘材质;一内导体焊接区,为导电材质,且布设至该基板本体的正面,其设有一贯穿孔,该贯穿孔能贯穿该基板本体的正面与背面,且其孔壁为导电材质,该内导体焊接区能被一射频同轴缆线的内导体所焊接;一顶针抵靠区,为导电材质制成,且布设至该基板本体的背面,其设有该贯穿孔,该顶针抵靠区能被一信号测试端的顶针所抵靠,且该信号测试端的顶针能伸入至该贯穿孔;一第一接地区,为导电材质,且布设至该基板本体的正面,该第一接地区与该内导体焊接区间设有至少一第一绝缘层,使得该第一接地区不会与该内导体焊接区相电气连接,该第一接地区能被该射频同轴缆线的外导体所焊接;及一第二接地区,为导电材质,且布设至该基板本体的背面,其与该顶针抵靠区间形成一间隙,使得该第二接地区不会与该顶针抵靠区相电气连接,该第二接地区能被该信号测试端的接地部所抵靠。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于明泰科技股份有限公司,未经明泰科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201810232268.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。