[发明专利]一种具有表面应力调制结构的应变PMOSFET有效

专利信息
申请号: 201810224830.0 申请日: 2018-03-19
公开(公告)号: CN108400169B 公开(公告)日: 2021-02-12
发明(设计)人: 罗谦;孟思远;檀长桂;王向展;文厚东 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/06;H01L21/336
代理公司: 成都点睛专利代理事务所(普通合伙) 51232 代理人: 葛启函
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 一种具有表面应力调制结构的应变PMOSFET,属于半导体技术领域。包括半导体衬底、栅氧化层、栅极、源极、漏极和两个重掺杂区,半导体衬底上从下至上依次设置栅氧化层和栅极,两个重掺杂区设置在半导体衬底内并位于栅极两侧,两个重掺杂区分别为源区和漏区,源极设置在源区上,漏极设置在漏区上,半导体衬底上还设置有至少一个绝缘介质层,绝缘介质层设置在重掺杂区远离栅极的一侧并与重掺杂区相邻;整个器件上表面覆盖有一层张应变盖帽层。本发明通过绝缘介质层到栅极之间的槽形结构,抑制了张应变氮化硅盖帽层造成的PMOSFET性能的下降;应用于使用张应变氮化硅盖帽层的CMOS时,还避免了刻蚀PMOSFET表面张应变盖帽层,降低了工艺的复杂度。
搜索关键词: 一种 具有 表面 应力 调制 结构 应变 pmosfet
【主权项】:
1.一种具有表面应力调制结构的应变PMOSFET,包括半导体衬底(1)、栅氧化层(2)、栅极(3)、源极、漏极和两个重掺杂区,所述半导体衬底(1)上从下至上依次设置所述栅氧化层(2)和所述栅极(3),所述两个重掺杂区设置在所述半导体衬底(1)内并位于所述栅极(3)两侧,所述两个重掺杂区分别为源区(5)和漏区(6),所述源极设置在所述源区(5)上并与所述源区(5)接触,所述漏极设置在所述漏区(6)上并与所述漏区(6)接触;其特征在于,所述半导体衬底(1)上还设置有至少一个绝缘介质层(8),所述绝缘介质层(8)设置在所述重掺杂区远离所述栅极(3)的一侧并与所述重掺杂区相邻;包括所述绝缘介质层(8)、重掺杂区和栅极(3)的上表面覆盖有一层张应变盖帽层(10)。
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