[发明专利]打线及测试方法及适应此方法的快闪存储器装置在审
申请号: | 201810209333.3 | 申请日: | 2018-03-14 |
公开(公告)号: | CN109215727A | 公开(公告)日: | 2019-01-15 |
发明(设计)人: | 黄淑英;陈德威;陈秀园 | 申请(专利权)人: | 慧荣科技股份有限公司 |
主分类号: | G11C29/56 | 分类号: | G11C29/56 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 陈亮 |
地址: | 中国台湾新竹县*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明提出一种打线及测试方法以及适应此方法的快闪存储器装置,由打线机执行,包含下列步骤:提供基板及多个晶粒,基板包含多个裸露的引脚而每一晶粒包含多个裸露的垫;控制马达以使金属框固定住基板;以及打线以互连晶粒上的垫以及基板上的引脚,以制作快闪存储器的半成品。基板上的所有引脚浮接于金属框以避免发生静电放电错误。 | ||
搜索关键词: | 基板 快闪存储器 晶粒 打线 引脚 金属框 裸露 测试 静电放电 控制马达 互连 浮接 线机 半成品 制作 | ||
【主权项】:
1.一种打线及测试方法,由一打线机台执行,包含:提供一基板及多个晶粒,其中,上述基板包含多个裸露的引脚及每一上述晶粒包含多个裸露的垫;控制一马达以使一金属框固定住上述基板,其中,上述基板上的上述所有引脚浮接于上述金属框以避免发生静电放电错误;以及打线以互连上述晶粒上的上述垫以及上述基板上的上述引脚,以制作一快闪存储器的一半成品。
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