[发明专利]用于光学检测物体的系统及方法

摘要

本发明提供一种用于光学检测物体的系统及方法。该系统包括用于产生第一波长的光或超声波的源。物体被光或超声波照射，其中该照射被物体扭曲。该系统还包括至少一个用于产生第二波长的彩色光的彩色光源，其中彩色光源的彩色光照射同一物体。第一波长与第二波长不同。此外，设置传感器用于检测被自源的光或超声波照射的物体，并且设置第二传感器用于检测由彩色光源产生的并被物体反射的彩色光。

主权项

1.一种用于光学检测物体的系统，包括：源(12)，其用于产生第一波长的光、微波或超声波，其中，所述物体(16)被所述光、所述微波或所述超声波照射，并且所述照射被所述物体(16)扭曲，至少一个彩色光源(30)，其用于产生不同于所述第一波长的第二波长的彩色光，其中，所述物体(16)被所述彩色光源(30)的彩色光照射，第一传感器(18)，其用于检测由所述源(12)的所述光、所述微波或所述超声波照射的所述物体(16)，以及第二传感器(34)，其用于检测由所述彩色光源(30)产生并被所述物体(16)反射的彩色光。