[发明专利]用于补偿退化的半导体装置及使用其的半导体系统有效
申请号: | 201810149568.8 | 申请日: | 2018-02-13 |
公开(公告)号: | CN108806759B | 公开(公告)日: | 2022-05-03 |
发明(设计)人: | 金雄来;高福林;宋根洙 | 申请(专利权)人: | 爱思开海力士有限公司 |
主分类号: | G11C29/12 | 分类号: | G11C29/12;G11C29/50 |
代理公司: | 北京弘权知识产权代理有限公司 11363 | 代理人: | 郭放;许伟群 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种半导体装置可以包括退化检测电路和电路块。退化检测电路可以检测半导体装置中出现的退化,并产生退化信息。电路块可以包括被配置为接收可变偏置电压和可变栅极电压的至少一个晶体管。 | ||
搜索关键词: | 用于 补偿 退化 半导体 装置 使用 系统 | ||
【主权项】:
1.一种半导体装置,包括:退化检测电路,被配置为检测半导体装置中已经出现的退化,并产生退化信息;电压发生器,被配置为基于退化信息来产生可变偏置电压和可变栅极电压;以及电路块,包括至少一个晶体管,所述至少一个晶体管被配置为通过接收可变偏置电压和可变栅极电压来工作。
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