[发明专利]基于OTDR的光子晶体光纤环熔点反射强度确定方法

摘要

本发明基于OTDR的光子晶体光纤环熔点反射强度确定方法，在光子晶体光纤两侧熔接保偏光纤并使用OTDR从一侧保偏光纤处对熔点的背向反射进行测量，既可模拟光子晶体光纤环中熔点背向反射，又可抑制陀螺信号光对测量的干扰，实现背向反射的独立测量。针对OTDR测量精度低的问题，通过将另一侧保偏光纤未熔接端面切割得到垂直于光传输方向的光纤解理面，使其成为背向反射强度可精确计算的菲涅尔反射面。从OTDR测量曲线中得到光纤熔点和菲涅尔反射面的背向反射光强相对比例，并根据计算得到的菲涅尔反射面绝对反射强度，即可精确得到熔点背向反射强度。本方法解决了光子晶体光纤环内熔点背向反射强度不可测的问题，且测量精度较高。

主权项

1.一种基于OTDR的光子晶体光纤环熔点反射强度确定方法，其特征在于步骤如下：步骤1：在光子晶体光纤左侧熔接波导用传统保偏光纤；步骤2：在光子晶体光纤右侧熔接波导用传统保偏光纤；步骤3：使用光纤切割刀对右侧传统保偏光纤的未熔接端进行切割，得到与光传播方向垂直的光纤解理面；步骤4：将左侧传统保偏光纤与光纤跳线连接；步骤5：从光纤跳线未连接端对光纤中背向反射点进行测量，得到背向反射光强测量曲线；步骤6：从测量曲线中读取各极大值点对应的纵坐标值，得到熔点正向反射相对强度I′₁、反向反射相对强度I′₂和解理面菲涅尔反射相对强度I′₀；步骤7：根据光纤折射率和空气折射率，计算得到解理面菲涅尔反射绝对强度I₀；步骤8：根据熔点正向反射相对强度I′₁、解理面菲涅尔反射相对强度I′₀和步骤7计算得到的菲涅尔反射绝对强度I₀，计算得到熔点正向反射绝对强度I₁；步骤9：根据熔点反向反射相对强度I′₂、解理面菲涅尔反射相对强度I′₀和步骤7计算得到的菲涅尔反射绝对强度I₀，计算得到反向反射绝对强度I₂。