[发明专利]低导电性零件的泄漏测试方法在审
申请号: | 201810127315.0 | 申请日: | 2018-02-08 |
公开(公告)号: | CN108445339A | 公开(公告)日: | 2018-08-24 |
发明(设计)人: | E·P·卡尔德隆;R·M·布里斯班;H·K·福莱姆 | 申请(专利权)人: | 通用汽车环球科技运作有限责任公司 |
主分类号: | G01R31/02 | 分类号: | G01R31/02 |
代理公司: | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人: | 薛建强 |
地址: | 美国密*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 一种对由低导电性材料制成的零件的流体通道进行泄漏测试的方法,包括测量零件的流体通道的内壁表面与零件的流体通道的外壁表面之间的电阻。将所测得的电阻与阈值进行比较,以确定所测得的电阻是否等于或大于阈值,或者所测得的电阻是否小于阈值。阈值等于流体通道的标称壁厚乘以用于形成零件的材料的电阻率的乘积。当所测得的电阻等于或大于阈值时,零件通过泄漏测试。当所测得的电阻小于阈值时,零件未通过泄漏测试。 | ||
搜索关键词: | 电阻 流体通道 泄漏测试 阈值时 导电性材料 导电性零件 测量零件 内壁表面 外壁表面 电阻率 壁厚 标称 | ||
【主权项】:
1.一种对由低导电性材料制成的零件的流体通道进行泄漏测试的方法,所述方法包括:用电阻测试仪测量所述零件的流体通道的内壁表面与所述零件的流体通道的外壁表面之间的电阻;确定所述测得的电阻是否等于或大于阈值,或者所述测得的电阻是否小于所述阈值;当所述测得的电阻等于或大于所述阈值时,确认通过所述泄漏测试;并且当所述测得的电阻小于所述阈值时,确认未通过所述泄漏测试。
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