[发明专利]低导电性零件的泄漏测试方法在审
| 申请号： | 201810127315.0 | 申请日： | 2018-02-08 |
| 公开（公告）号： | CN108445339A | 公开（公告）日： | 2018-08-24 |
| 发明（设计）人： | E·P·卡尔德隆;R·M·布里斯班;H·K·福莱姆 | 申请（专利权）人： | 通用汽车环球科技运作有限责任公司 |
| 主分类号： | G01R31/02 | 分类号： | G01R31/02 |
| 代理公司： | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人： | 薛建强 |
| 地址： | 美国密*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 电阻 流体通道 泄漏测试 阈值时 导电性材料 导电性零件 测量零件 内壁表面 外壁表面 电阻率 壁厚 标称 | ||
1.一种对由低导电性材料制成的零件的流体通道进行泄漏测试的方法，所述方法包括：
用电阻测试仪测量所述零件的流体通道的内壁表面与所述零件的流体通道的外壁表面之间的电阻；
确定所述测得的电阻是否等于或大于阈值，或者所述测得的电阻是否小于所述阈值；
当所述测得的电阻等于或大于所述阈值时，确认通过所述泄漏测试；并且
当所述测得的电阻小于所述阈值时，确认未通过所述泄漏测试。
2.如权利要求1所述的方法，其中测量所述电阻包括将所述电阻测试仪的第一测试探针定位为与所述流体通道的外壁表面接触，并且将所述电阻测试仪的第二测试探针定位为与所述流体通道的内壁表面接触。
3.如权利要求1所述的方法，其中测量所述电阻包括将测试电压施加到所述第一测试探针和所述第二测试探针中的其中之一上。
4.如权利要求3所述的方法，其中所述测试电压约等于1000伏。
5.如权利要求1所述的方法，还包括根据所述低导电性材料的电阻率计算所述阈值。
6.如权利要求5所述的方法，其中计算所述阈值包括在所述流体通道的外壁表面与所述流体通道的内壁表面之间测量所述低导电性材料的标称壁厚。
7.如权利要求6所述的方法，其中计算所述阈值包括将所述低导电性材料的电阻率乘以所述流体通道的标称壁厚，得到所述阈值。
8.如权利要求1所述的方法，其中所述低导电性材料包括等于或大于1.0x1012欧姆-厘米的电阻率。
9.如权利要求1所述的方法，还包括在测量所述流体通道的内壁表面与所述流体通道的外壁表面之间的电阻之前，对所述零件进行干燥。
10.如权利要求9所述的方法，其中对所述零件进行干燥还被定义为除去所述零件的表面水分。
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