[发明专利]低导电性零件的泄漏测试方法

说明书

一种对由低导电性材料制成的零件的流体通道进行泄漏测试的方法，包括测量零件的流体通道的内壁表面与零件的流体通道的外壁表面之间的电阻。将所测得的电阻与阈值进行比较，以确定所测得的电阻是否等于或大于阈值，或者所测得的电阻是否小于阈值。阈值等于流体通道的标称壁厚乘以用于形成零件的材料的电阻率的乘积。当所测得的电阻等于或大于阈值时，零件通过泄漏测试。当所测得的电阻小于阈值时，零件未通过泄漏测试。

引言

本发明主要涉及一种对由低导电性材料制成的零件的流体通道进行泄漏测试的方法。

许多由低导电性材料制成的零件包括用于引导流体(例如冷却液)的流体通道。低导电性材料可以包括但不限于绝缘体材料，例如塑料、玻璃、橡胶等。此外，低导电性材料还可以包括电阻率等于或大于1.0x10¹²欧姆-厘米的材料。形成流体通道的壁的任何孔隙度可能导致流体从流体通道的壁泄漏出来。这种孔隙度可能很小，很难发现。根据零件的具体应用和使用情况，可能需要在组装之前对流体通道进行泄漏测试。

发明内容

本发明提供了一种对由低导电性材料制成的零件的流体通道进行泄漏测试的方法。在一个实施例中，零件是电池单元的重复框架。该方法包括测量零件的流体通道的内壁表面与零件的流体通道的外壁表面之间的电阻。用电阻测试仪测量电阻。将所测得的电阻与阈值进行比较，以确定所测得的电阻是否等于或大于阈值，或者所测得的电阻是否小于阈值。当所测得的电阻等于或大于阈值时，泄漏测试通过。当所测得的电阻小于阈值时，泄漏测试不合格。

在零件的泄漏测试方法的一个方面，测量电阻包括将电阻测试仪的第一测试探针定位为与流体通道的外壁表面接触，并且将电阻测试仪的第二测试探针定位为与流体通道的内壁表面接触。接着可以将测试电压施加到第一测试探针和第二测试探针中的其中之一上，然后可以测量形成流体通道的壁的电阻。在一个示例性实施例中，测试电压约等于1000伏。

在零件的泄漏测试方法的另一个方面，计算阈值。根据用于形成零件的低导电性材料的电阻率来计算阈值。在流体通道的外壁表面与流体通道的内壁表面之间测量用于形成零件的低导电性材料的标称壁厚。然后，将用于形成零件的低导电性材料的电阻率乘以流体通道的标称壁厚，得到阈值。

在零件的泄漏测试方法的一个示例性实施例中，用于形成零件的低导电性材料包括等于或大于1x10¹²欧姆-厘米的电阻率。在零件的泄漏测试方法的另一个示例性实施例中，用于形成零件的低导电性材料包括等于或大于1x10¹⁷欧姆-厘米的电阻率。

在零件的泄漏测试方法的另一个方面，在测量流体通道的内壁表面与流体通道的外壁表面之间的电阻之前，对零件进行干燥。对零件进行干燥可以包括去除零件表面的水分。

因此，低导电性材料在形成流体通道的壁的外壁表面与内壁表面之间对所施加的测试电压的阻力可以用于表示壁的孔隙度，而这孔隙度可能导致流体从流体通道的壁泄漏出来。如果电阻低(表示测试电压很容易通过流体通道的壁)，那么壁可能是多孔的，可能导致流体从壁泄漏出来。因此，对测试电压的低阻力可以用来确认多孔壁结构，而多孔壁结构对于流体通道来说是不利的。

从以下结合附图对实施本发明教导的最佳方式的详细描述中，本发明教导的上述特征和优点以及其他特征和优点变得显而易见。

附图说明

图1是连接到零件以用于零件中流体通道的泄漏测试的电阻测试仪的平面示意图。

图2是表示零件的泄漏测试方法的流程图。

具体实施方式