[发明专利]一种基于SOI衬底的石墨烯/硅异质结CCD像素阵列及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201810082636.3 申请日: 2018-01-29
公开(公告)号: CN108281443B 公开(公告)日: 2021-05-11
发明(设计)人: 徐杨;郭宏伟;李炜;俞滨 申请(专利权)人: 杭州紫元科技有限公司
主分类号: H01L27/146 分类号: H01L27/146;H01L27/148
代理公司: 杭州信义达专利代理事务所(普通合伙) 33305 代理人: 施建勇
地址: 310000 浙江省杭州市富阳区*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种基于SOI衬底的石墨烯/硅异质结CCD像素阵列,由像素组成阵列,像素自下而上依次为栅极、SOI基片衬底、氧化物绝缘层、源极、SOI基片的顶层硅、石墨烯薄膜与漏极;源极和漏极水平间隔布置于氧化物绝缘层上;石墨烯与SOI基片的顶层硅交叠后设于源极、漏极之间的氧化物绝缘层上,石墨烯覆盖于源极上;制备方法简便。入射光照射到器件表面,被石墨烯和半导体衬底吸收。由于石墨烯的特殊性质,其通过电容耦合有效收集载流子,产生光电流直接从单个像素输出,实现本地随机读取,无需采用像素间转移电荷方式,从而改变CCD的信号读出方式,提高响应速度、动态范围和可靠性。石墨烯/硅异质结可有效降低器件暗电流。
搜索关键词: 一种 基于 soi 衬底 石墨 硅异质结 ccd 像素 阵列 及其 制备 方法
【主权项】:
1.一种基于SOI衬底的石墨烯/硅异质结CCD像素阵列,包括组成阵列的若干像素,其特征在于,所述像素自下而上依次包括栅极、SOI基片衬底、氧化物绝缘层、源极、SOI基片的顶层硅、石墨烯薄膜与漏极;所述源极和所述漏极水平间隔布置于所述氧化物绝缘层的上表面;所述石墨烯薄膜与所述SOI基片的顶层硅交叠后设于所述源极、漏极之间的氧化物绝缘层的上表面,且所述石墨烯薄膜覆盖于所述源极上方,所述SOI基片的顶层硅设于所述漏极下方。
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