[发明专利]非易失存储设备的掉电时间估计方法和装置有效
| 申请号： | 201810081525.0 | 申请日： | 2018-01-26 |
| 公开（公告）号： | CN110083496B | 公开（公告）日： | 2020-10-16 |
| 发明（设计）人： | 夏天;玄在雄;江冬 | 申请（专利权）人： | 华为技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人： | 贺琳 |
| 地址： | 518129 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开了一种非易失存储设备的掉电时间估计方法和装置，所述方法应用于非易失存储设备中，该方法包括：获取并记录参考数据在非易失存储设备的掉电时刻的第一最优读电压，参考数据为根据预配置的选取规则所确定的非易失存储设备的至少一个逻辑块地址扇区Sector中的数据；在非易失存储设备的所述掉电时刻之后的上电时刻，根据第一最优读电压读取参考数据，得到参考数据的出错数；若所述出错数不大于设定门限值，则确定所述非易失存储设备的掉电时长为第一设定时长。通过本发明实施例，能够根据参考数据在上电时的读取的出错时，识别出非易失存储设备在发生掉电至再次上电恢复期间，发生的是否为短时掉电，提高短时掉电时的响应效率。 | ||
| 搜索关键词： | 非易失 存储 设备 掉电 时间 估计 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种非易失存储设备的掉电时间估计方法，其特征在于，所述方法应用于非易失存储设备中，所述方法包括：获取并记录参考数据在所述非易失存储设备的掉电时刻的第一最优读电压，其中，所述参考数据为根据预配置的选取规则所确定的所述非易失存储设备的至少一个逻辑块地址扇区Sector中的数据；在所述非易失存储设备的所述掉电时刻之后的上电时刻，根据所述第一最优读电压读取所述参考数据，得到所述参考数据的出错数；若所述出错数不大于设定门限值，则确定所述非易失存储设备的掉电时长为第一设定时长。
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