[发明专利]芯片测试系统及其测试方法在审
| 申请号： | 201810051961.3 | 申请日： | 2018-01-19 |
| 公开（公告）号： | CN110058141A | 公开（公告）日： | 2019-07-26 |
| 发明（设计）人： | 王梓亦 | 申请（专利权）人： | 神讯电脑（昆山）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 215300 江苏省苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明揭示一种芯片测试系统及其测试方法，该芯片测试系统包括：产品型号数据库，其预存各个产品所对应的芯片型号的标准值；芯片版本号数据库，其预存各个芯片所对应的版本号的标准值；输入单元，其获取产品的型号；检测单元，其根据获取的型号在产品型号数据库查找出对应的芯片型号；处理单元，其将所述检测单元查找出的芯片型号与芯片版本号数据库中版本号的标准值进行判断及对比，生成一对比结果；显示单元，其单元显示对比结果；关闭单元，其关闭所述芯片测试系统。利用本发明的芯片测试系统及其测试方法，通过自动测试芯片型号，有效避免操作人员出现错选漏选的问题，从而使测试结果更可靠、准确。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片测试系统 芯片 产品型号数据库 对比结果 测试 预存 数据库 处理单元 单元查找 关闭单元 输入单元 自动测试 检测 查找 | ||
【主权项】：
1.一种芯片测试系统，用于检测产品里芯片的版本号，其特征在于，包括：产品型号数据库，其预存各个产品所对应的芯片型号的标准值；芯片版本号数据库，其预存各个芯片所对应的版本号的标准值；输入单元，其获取产品的型号；检测单元，其与所述输入单元及产品型号数据库相连接，该检测单元根据获取的型号在产品型号数据库查找出对应的芯片型号；处理单元，其与上述检测单元及芯片版本号数据库相连接，该处理单元将所述检测单元查找出的芯片型号与芯片版本号数据库中版本号的标准值进行判断及对比，生成一对比结果；显示单元，其与所述处理单元连接，该显示单元显示对比结果；关闭单元，其与所述显示单元连接，该关闭单元关闭所述芯片测试系统。
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