[发明专利]芯片测试系统及其测试方法在审
| 申请号： | 201810051961.3 | 申请日： | 2018-01-19 |
| 公开（公告）号： | CN110058141A | 公开（公告）日： | 2019-07-26 |
| 发明（设计）人： | 王梓亦 | 申请（专利权）人： | 神讯电脑（昆山）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 215300 江苏省苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 芯片测试系统 芯片 产品型号数据库 对比结果 测试 预存 数据库 处理单元 单元查找 关闭单元 输入单元 自动测试 检测 查找 | ||
1.一种芯片测试系统，用于检测产品里芯片的版本号，其特征在于，包括：
产品型号数据库，其预存各个产品所对应的芯片型号的标准值；
芯片版本号数据库，其预存各个芯片所对应的版本号的标准值；
输入单元，其获取产品的型号；
检测单元，其与所述输入单元及产品型号数据库相连接，该检测单元根据获取的型号在产品型号数据库查找出对应的芯片型号；
处理单元，其与上述检测单元及芯片版本号数据库相连接，该处理单元将所述检测单元查找出的芯片型号与芯片版本号数据库中版本号的标准值进行判断及对比，生成一对比结果；
显示单元，其与所述处理单元连接，该显示单元显示对比结果；
关闭单元，其与所述显示单元连接，该关闭单元关闭所述芯片测试系统。
2.如权利要求1中所述的芯片测试系统，其特征在于，所述输入单元通过读取产品的Bios信息获取产品型号。
3.如权利要求1中所述的芯片测试系统，其特征在于，所述关闭单元在显示单元显示5秒后关闭所述芯片测试系统。
4.如权利要求1中所述的芯片测试系统，其特征在于，所述对比结果包括产品型号和芯片型号的信息。
5.如权利要求1中所述的芯片测试系统，其特征在于，所述芯片测试系统还连接至一现场控制系统，所述处理单元将生成的对比结果传送给所述现场控制系统进行保存。
6.一种芯片测试方法，应用于上述芯片测试系统中，其特征在于，包括以下步骤：
(1)在产品型号数据库中预存各个产品所对应的芯片型号的标准值；
(2)在芯片版本号数据库中预存各个芯片所对应的版本号的标准值；
(3)芯片测试系统通过输入单元获取产品的型号；
(4)检测单元根据输入单元获取的型号在产品型号数据库查找出对应的芯片型号；
(5)处理单元将所述检测单元查找出的芯片型号与芯片版本号数据库中版本号的标准值进行判断及对比，生成一对比结果；
(6)对比结果一致，则显示单元显示测试通过；
(7)对比结果不一致，则显示单元显示测试不通过；
(8)关闭单元在显示单元显示一段时间后关闭所述芯片测试系统。
7.如权利要求1中所述的芯片测试方法，其特征在于，所述步骤(6)及步骤(7)后还分别包括步骤(9)对所述对比结果生成以产品流水号生成的测试记录。
8.如权利要求1中所述的芯片测试方法，其特征在于，所述步骤(9)后还包括步骤(10)处理单元将对比结果的数据上传至现场控制系统进行保存。
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