[发明专利]芯片测试系统及其测试方法

说明书

本发明揭示一种芯片测试系统及其测试方法，该芯片测试系统包括：产品型号数据库，其预存各个产品所对应的芯片型号的标准值；芯片版本号数据库，其预存各个芯片所对应的版本号的标准值；输入单元，其获取产品的型号；检测单元，其根据获取的型号在产品型号数据库查找出对应的芯片型号；处理单元，其将所述检测单元查找出的芯片型号与芯片版本号数据库中版本号的标准值进行判断及对比，生成一对比结果；显示单元，其单元显示对比结果；关闭单元，其关闭所述芯片测试系统。利用本发明的芯片测试系统及其测试方法，通过自动测试芯片型号，有效避免操作人员出现错选漏选的问题，从而使测试结果更可靠、准确。

【技术领域】

本发明涉及一种检测系统及其测试方法，特别是涉及一种芯片测试系统及其测试方法。

【背景技术】

目前，工厂端在组装电路板时，根据不同产品使用不同芯片，并且为防止误装，操作人员事先会对芯片进行筛选。然而，长时间的肉眼辨别难免会出现疲劳，出现错选漏选的现象，不能保证产品品质。

有鉴于此，实有必要开发一种芯片测试系统及其测试方法，以解决上述操作人员出现错选漏选芯片的问题。

【发明内容】

本发明的目的是提供一种芯片测试系统及其测试方法，避免操作人员出现错选漏选芯片的问题。

为了达到上述目的，本发明提供的芯片测试系统，用于检测产品里芯片的版本号，其包括：

产品型号数据库，其预存各个产品所对应的芯片型号的标准值；

芯片版本号数据库，其预存各个芯片所对应的版本号的标准值；

输入单元，其获取产品的型号；

检测单元，其与所述输入单元及产品型号数据库相连接，该检测单元根据获取的型号在产品型号数据库查找出对应的芯片型号；

处理单元，其与上述检测单元及芯片版本号数据库相连接，该处理单元将所述检测单元查找出的芯片型号与芯片版本号数据库中版本号的标准值进行判断及对比，生成一对比结果；

显示单元，其与所述处理单元连接，该显示单元显示对比结果；

关闭单元，其与所述显示单元连接，该关闭单元关闭所述芯片测试系统。

可选的，所述输入单元通过读取产品的Bios信息获取产品型号。

可选的，所述关闭单元在显示单元显示5秒后关闭所述芯片测试系统。

可选的，所述对比结果包括产品型号和芯片型号的信息。

可选的，所述芯片测试系统还连接至一现场控制系统(SFCS；shop floor controlsystem)，所述处理单元将生成的对比结果传送给所述现场控制系统进行保存。

本发明还提供一种芯片测试方法，包括以下步骤：

(1)在产品型号数据库中预存各个产品所对应的芯片型号的标准值；

(2)在芯片版本号数据库中预存各个芯片所对应的版本号的标准值；

(3)芯片测试系统通过输入单元获取产品的型号；

(4)检测单元根据输入单元获取的型号在产品型号数据库查找出对应的芯片型号；

(5)处理单元将所述检测单元查找出的芯片型号与芯片版本号数据库中版本号的标准值进行判断及对比，生成一对比结果；

(6)对比结果一致，则显示单元显示测试通过；

(7)对比结果不一致，则显示单元显示测试不通过；

(8)关闭单元在显示单元显示一段时间后关闭所述芯片测试系统。