[发明专利]一种在气相环境中进行单分子力谱测试的方法在审
| 申请号： | 201810038474.3 | 申请日： | 2018-01-16 |
| 公开（公告）号： | CN108241075A | 公开（公告）日： | 2018-07-03 |
| 发明（设计）人： | 张文科;杨鹏;宋宇 | 申请（专利权）人： | 吉林大学 |
| 主分类号： | G01Q60/24 | 分类号： | G01Q60/24 |
| 代理公司： | 长春菁华专利商标代理事务所(普通合伙) 22210 | 代理人： | 南小平 |
| 地址： | 130012 吉林*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 一种在气相环境中进行单分子力谱测试的方法，属于单分子力谱测量技术领域。解决了如何能在气相环境中进行单分子力谱检测的问题。本发明的测试方法，是先将承载样品的基底放在载物台上，调节原子力显微镜的AFM探针与样品所处环境的相对湿度为20％以下，然后通过扫描器的伸缩带动探针移动，最后通过激光检测器与扫描器的参数得到力‑距离曲线，从而获得聚合物分子在气相环境下的力学信号。该方法能够在气相环境下研究聚合物片晶单链力致熔融解链的过程与机制以及聚合物分子在气相环境下的单链行为与力学响应，并且该方法对聚合物单个分子链的拉伸速度可以在几十纳米每秒到上百微米每秒间进行调节，所得的力‑距离曲线的力精度为5个皮牛。 | ||
| 搜索关键词： | 单分子力谱 聚合物分子 扫描器 测试 单链 探针 测量技术领域 原子力显微镜 激光检测器 研究聚合物 单个分子 力学响应 力学信号 聚合物 伸缩 基底 解链 拉伸 片晶 熔融 载物 承载 检测 移动 | ||
【主权项】：
1.在气相环境中进行单分子力谱测试的方法，其特征在于，步骤如下：步骤一、将承载样品(6)的基底放在原子力显微镜的载物台(5)上；步骤二、调节原子力显微镜的AFM探针(3)与样品(6)所处环境的相对湿度为20％以下；步骤三、调节原子力显微镜处于力谱模式，控制原子力显微镜的扫描器(11)伸长，带动AFM探针(3)以20nm/s～100μm/s的恒定速率逼近基底(7)，当AFM探针(3)的针尖接触到基底(7)后，AFM探针(3)的针尖以1nN～10nN的恒定下压力在基底(7)上停留，停留过程中，AFM探针(3)的针尖与样品(6)接触形成桥连结构，之后控制扫描器(11)收缩，带动AFM探针(3)以20nm/s～100μm/s的恒定速率远离基底(7)或者给AFM探针施加一个恒定力使之远离基底(7)，扫描器(11)记录AFM探针(3)在运动方向的实时位置参数，激光检测器(12)检测AFM探针(3)的形变量并给出实时力值参数；所述AFM探针(3)的弹性系数为0.2N/m以上；步骤四、通过激光检测器(12)与扫描器(11)的参数得到力‑距离曲线，从而获得聚合物分子在气相环境下的力学信号。
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- 2016-06-27 - 2019-01-18 - G01Q60/24
- 本发明提出一种活体细胞原子力显微镜快速精确表征方法，包括如下步骤：步骤一：使用原子力显微镜获取细胞表面弹性值基本稳定的作用力范围，及其对应杨氏模量值；步骤二：使用原子力显微镜获得活体细胞在设定成像力下的来回扫描高度图像；步骤三：对探针与细胞间相互作用进行受力分析，将两者间相互作用分解为竖直成像力与水平侧向力；步骤四：根据成像力大小、在此力下细胞表面形貌、细胞表面弹性系数计算获得细胞在未受作用力时细胞表面形貌。本发明提出的活体细胞原子力显微镜快速精确表征方法，具有较高精度，较高时间分辨率等特点。
- 一种原子力显微镜多型水合物观测装置-201820565169.5
- 李维;宁伏龙;彭力;王冬冬;曹品强;孙嘉鑫 - 中国地质大学（武汉）
- 2018-04-19 - 2019-01-18 - G01Q60/24
- 本实用新型提供一种原子力显微镜多型水合物观测装置，包括手套箱、干燥通道、降温通道、输气管道和液氮罐，手套箱内设有合成腔，合成腔内设有原子力显微镜，原子力显微镜的载物台上固定冷热台，液氮罐内设有冷却腔，干燥通道包括进气管和出气管，进气管上设有液氮泵，干燥通道一端的两接口接入手套箱内，另一端的两接口接入冷却腔，降温通道与干燥通道结构相同，降温通道一端的两接口接入冷热台，另一端的两接口接入液氮罐，输气管道一端接入合成腔，另一端连接气瓶。本实用新型的有益效果：通过降温通道控制温度，通过调节输气管道流量控制气压，满足不同类型水合物合成条件，实现了常压下对样品微纳米级表面形态及物理化学性质精准观测。
- 一种鉴别铝氧化膜被钎剂破坏情况的方法-201510967919.2
- 刘丽华;陈翌庆;胡焕冬;朱子昂 - 合肥工业大学
- 2015-12-18 - 2019-01-11 - G01Q60/24
- 本发明公开了一种鉴别铝氧化膜被钎剂破坏情况的方法，其特征是：在通过钎剂对铝或铝合金样品表面的铝氧化膜进行作用后，利用导电原子力显微镜来观察铝或铝合金表面微观形貌的实际变化情况，并对微区导电状态进行测试，来分析铝氧化膜被钎剂破坏的情况。本发明的方法简单有效、易于操作。
- 操作扫描探针显微镜的方法和装置-201510350667.9
- 胡焰;胡水清;苏全民 - 布鲁克纳米公司
- 2009-11-13 - 2019-01-08 - G01Q60/24
- 一种改进的AFM成像模式300(峰力轻敲(PFT)模式)使用力作为可变反馈，以减小尖端‑样本相互作用力，同时保持能够由所有现有AFM操作模式获得的扫描速度。以改进的分辨率和高的样本产量获得样本成像和机械性能映射，其中，模式能够在包括气态的、流体的和真空的各种环境中工作。
- 一种基于图像处理和线性回归的原子力显微镜光路自动调整方法-201810933939.1
- 程利群;王作斌;宋正勋;翁占坤;许红梅;曲英敏;孙佰顺;杨焕洲 - 长春理工大学
- 2018-08-16 - 2019-01-04 - G01Q60/24
- 本发明公开了一种基于图像处理和线性回归的原子力显微镜光路自动调整方法，首先在原子力显微镜的探针架上装设可通过计算机控制进行二维方向上移动的电机，然后利用电机进行光路的自动调整，所述自动调整包括标定阶段和实施阶段。本发明通过在原子力显微镜系统中加设用于移动探针架的电机，并通过相关计算实现对原子力显微镜反射光路的自动调整，具有操作简便、定位精准的优点，避免操作者眼疲劳甚至出现损伤的情况。
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