[发明专利]一种在气相环境中进行单分子力谱测试的方法在审
| 申请号： | 201810038474.3 | 申请日： | 2018-01-16 |
| 公开（公告）号： | CN108241075A | 公开（公告）日： | 2018-07-03 |
| 发明（设计）人： | 张文科;杨鹏;宋宇 | 申请（专利权）人： | 吉林大学 |
| 主分类号： | G01Q60/24 | 分类号： | G01Q60/24 |
| 代理公司： | 长春菁华专利商标代理事务所(普通合伙) 22210 | 代理人： | 南小平 |
| 地址： | 130012 吉林*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 一种在气相环境中进行单分子力谱测试的方法，属于单分子力谱测量技术领域。解决了如何能在气相环境中进行单分子力谱检测的问题。本发明的测试方法，是先将承载样品的基底放在载物台上，调节原子力显微镜的AFM探针与样品所处环境的相对湿度为20％以下，然后通过扫描器的伸缩带动探针移动，最后通过激光检测器与扫描器的参数得到力‑距离曲线，从而获得聚合物分子在气相环境下的力学信号。该方法能够在气相环境下研究聚合物片晶单链力致熔融解链的过程与机制以及聚合物分子在气相环境下的单链行为与力学响应，并且该方法对聚合物单个分子链的拉伸速度可以在几十纳米每秒到上百微米每秒间进行调节，所得的力‑距离曲线的力精度为5个皮牛。 | ||
| 搜索关键词： | 单分子力谱 聚合物分子 扫描器 测试 单链 探针 测量技术领域 原子力显微镜 激光检测器 研究聚合物 单个分子 力学响应 力学信号 聚合物 伸缩 基底 解链 拉伸 片晶 熔融 载物 承载 检测 移动 | ||
【主权项】：
1.在气相环境中进行单分子力谱测试的方法，其特征在于，步骤如下：步骤一、将承载样品(6)的基底放在原子力显微镜的载物台(5)上；步骤二、调节原子力显微镜的AFM探针(3)与样品(6)所处环境的相对湿度为20％以下；步骤三、调节原子力显微镜处于力谱模式，控制原子力显微镜的扫描器(11)伸长，带动AFM探针(3)以20nm/s～100μm/s的恒定速率逼近基底(7)，当AFM探针(3)的针尖接触到基底(7)后，AFM探针(3)的针尖以1nN～10nN的恒定下压力在基底(7)上停留，停留过程中，AFM探针(3)的针尖与样品(6)接触形成桥连结构，之后控制扫描器(11)收缩，带动AFM探针(3)以20nm/s～100μm/s的恒定速率远离基底(7)或者给AFM探针施加一个恒定力使之远离基底(7)，扫描器(11)记录AFM探针(3)在运动方向的实时位置参数，激光检测器(12)检测AFM探针(3)的形变量并给出实时力值参数；所述AFM探针(3)的弹性系数为0.2N/m以上；步骤四、通过激光检测器(12)与扫描器(11)的参数得到力‑距离曲线，从而获得聚合物分子在气相环境下的力学信号。
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