[发明专利]一种硅片处理方法以及太阳电池制作方法有效
申请号: | 201810034862.4 | 申请日: | 2018-01-15 |
公开(公告)号: | CN108198909B | 公开(公告)日: | 2020-04-14 |
发明(设计)人: | 郑霈霆;张范;张昕宇;金浩;许佳平;孙海杰;郭摇 | 申请(专利权)人: | 浙江晶科能源有限公司;晶科能源有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 王宝筠 |
地址: | 314416 浙江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明公开了一种硅片处理方法以及太阳能电池制作方法,本发明技术方案在第一流量的二氯乙烯环境中对待处理硅片进行设定时间的加热处理,可以消除待处理硅片的表面以及反应炉进行清洁处理,在第二流量的二氯乙烯气体以及设定流量的氧气构成的混合气体环境中对待处理芯片进行设定时间的氧化处理,可以降低所述待处理硅片内的氧环缺陷。可见,本发明技术方案可以有效去除所述待处理硅片的表面杂质以及所述待处理硅片内的氧环缺陷,大大提高硅片质量。 | ||
搜索关键词: | 一种 硅片 处理 方法 以及 太阳电池 制作方法 | ||
【主权项】:
1.一种硅片处理方法,其特征在于,所述处理方法包括:将待处理硅片放置于反应炉内;向所述反应炉内通入第一流量的二氯乙烯气体,通过所述反应炉对所述硅片进行加热处理;经过设定时间的加热处理后,向所述反应炉内通入第二流量的二氯乙烯气体以及设定流量的氧气,对所述待处理硅片进行氧化处理,以降低所述待处理硅片内的氧环缺陷;所述第二流量小于所述第一流量;经过设定时间的氧化处理后,在氮气环境中对所述待处理硅片进行退火处理。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
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