[发明专利]基板处理装置和制造集成电路器件的装置有效
申请号: | 201810022556.9 | 申请日: | 2018-01-10 |
公开(公告)号: | CN109037094B | 公开(公告)日: | 2023-07-25 |
发明(设计)人: | 金伶厚;朴相真;赵庸真;吉娟真;郑志薰;赵炳权;高镛璿;李根泽 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L21/02 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 张波 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种基板处理装置包括:容器,其提供用于处理基板的处理空间;基板支撑部,其支撑装载在处理空间中的基板;以及屏障,其在容器的侧壁与基板支撑部之间并围绕由基板支撑部支撑的基板的边缘。 | ||
搜索关键词: | 处理 装置 制造 集成电路 器件 | ||
【主权项】:
1.一种基板处理装置,包括:容器,其包括用于处理基板的处理空间;基板支撑部,其被构造为支撑装载在所述处理空间中的所述基板;以及屏障,其在所述容器的侧壁与所述基板支撑部之间,被构造为围绕所述基板支撑部。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三星电子株式会社,未经三星电子株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201810022556.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:扫描电子显微镜的污染检测方法
- 下一篇:用于处理衬底的装置
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造