[发明专利]一种单事件死时间的检测方法及装置有效
申请号: | 201810005487.0 | 申请日: | 2018-01-03 |
公开(公告)号: | CN108287361B | 公开(公告)日: | 2019-08-27 |
发明(设计)人: | 常杰;刘勺连;孙智鹏 | 申请(专利权)人: | 东软医疗系统股份有限公司 |
主分类号: | G01T1/29 | 分类号: | G01T1/29;A61B6/03 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 党丽;王宝筠 |
地址: | 110179 辽宁*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | 本发明实施例公开了一种单事件死时间的检测方法及装置,适用于闪烁晶体包括固有放射性核素的PET系统,先获得空扫后的第一数据,再获得放置放射源扫描后的第二数据,在空扫之后的数据为固有放射性核素衰变对应的数据,而放射源衰变的能区与固有放射性核素第一数据中的能区不同,这样,在放射源扫描后的数据中可以区分出固有放射性核素的用于计数的能区,从而,可以获得放置放射源扫描后的固有放射性核素衰变对应的计数率,而前后两次扫描后相同衰变产生的光子计数率相同,通过所述第一数据和所述第二数据,可以获得单事件死时间。该方法采集次数少且所需时间短,且操作简单,提高PET系统的利用效率。 | ||
搜索关键词: | 固有放射性 衰变 放射源 第一数据 扫描 计数率 放射源衰变 两次扫描 闪烁晶体 光子 检测 采集 | ||
【主权项】:
1.一种单事件死时间的检测方法,应用于PET系统,所述PET系统的探测器中的闪烁晶体包括固有放射性核素,其特征在于,包括:执行空扫,获得空扫后的第一数据,所述第一数据包括第一总谱单事件计数率和能区的第一单事件计数率,所述能区对应于所述固有放射性核素衰变的全能峰区域;执行放置放射源的扫描,获得第二数据,所述第二数据包括第二总谱单事件计数率和所述能区的第二单事件计数率,其中,所述放射源衰变的全能峰区域不同于所述能区对应的全能峰区域;根据死时间的非瘫痪公式,以及两次扫描后各衰变对应的真单事件计数率之和不变,通过所述第一数据和第二数据,获得单事件死时间。
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