[发明专利]一种单事件死时间的检测方法及装置

说明书

本发明实施例公开了一种单事件死时间的检测方法及装置，适用于闪烁晶体包括固有放射性核素的PET系统，先获得空扫后的第一数据，再获得放置放射源扫描后的第二数据，在空扫之后的数据为固有放射性核素衰变对应的数据，而放射源衰变的能区与固有放射性核素第一数据中的能区不同，这样，在放射源扫描后的数据中可以区分出固有放射性核素的用于计数的能区，从而，可以获得放置放射源扫描后的固有放射性核素衰变对应的计数率，而前后两次扫描后相同衰变产生的光子计数率相同，通过所述第一数据和所述第二数据，可以获得单事件死时间。该方法采集次数少且所需时间短，且操作简单，提高PET系统的利用效率。

技术领域

本发明涉及医学影像成像及处理技术领域，尤其涉及一种单事件死时间的检测方法及装置。

背景技术

正电子发射断层成像(Positron Emission Computed Tomography，简称PET)系统，是目前最先进的医疗诊断成像设备之一，其利用发生β衰变的核素，在衰变中产生的正电子被周围的电子俘获，发生湮灭效应而产生γ光子，对这些光子进行计数，进而实现成像。

在PET系统有多个子系统组成，处理连续两个事件时每一个子系统要求一个最小处理时间，该最小处理时间称作死时间。PET系统死时间为探测器处理模块要求的最小处理时间，在该最小处理时间内，能够确保完成一个湮灭事件的处理，这样，避免后一个湮灭事件发生之前来不及处理完毕前一个湮灭事件，而导致前一湮灭事件的丢失，造成死时间的损失，死时间的损失会造成光子计数丢失，进而低估图像的像素值，影响成像质量。目前，主要是采用衰变源法确定PET系统死时间，该方法需要高活度的放射源进行长时间的测量，测试难度高且时间长。PET系统死时间包括单事件死时间和符合事件死时间，并且PET系统死时间主要由单事件死时间贡献。

发明内容

本发明提供了一种单事件死时间的检测方法及装置，易于操作且效率高。

本发明提供了一种单事件死时间的检测方法，应用于PET系统，所述PET系统的探测器中的闪烁晶体包括固有放射性核素，包括：

执行空扫，获得空扫后的第一数据，所述第一数据包括第一总谱单事件计数率和能区的第一单事件计数率，所述能区对应于所述固有放射性核素衰变的全能峰区域；

执行放置放射源的扫描，获得第二数据，所述第二数据包括第二总谱单事件计数率和所述能区的第二单事件计数率，其中，所述放射源衰变的全能峰区域不同于所述能区对应的全能峰区域；

通过所述第一数据和所述第二数据，获得单事件死时间。

可选地，所述能区为一个或多个。

可选地，所述闪烁晶体的固有放射性核素包含Lu176元素。

可选地，所述能区为一个，所述通过所述第一数据和所述第二数据，获得单事件死时间，包括：

根据死时间的非瘫痪公式，以及前后两次扫描后同一衰变对应的真单事件计数率相同，通过所述第一数据和所述第二数据，获得单事件死时间。

可选地，所述特定能区为多个，所述通过所述第一数据和所述第二数据，获得单事件死时间，包括：

根据死时间的非瘫痪公式，以及前后两次扫描后各衰变对应的真单事件计数率之和不变，通过所述第一数据和第二数据，获得单事件死时间。

一种单事件死时间的检测装置，应用于PET系统，所述PET系统的探测器中的闪烁晶体包括固有放射性核素，包括：