[发明专利]液晶盒测试装置以及液晶显示面板的测试方法有效
| 申请号： | 201810004513.8 | 申请日： | 2018-01-03 |
| 公开（公告）号： | CN108153007B | 公开（公告）日： | 2020-06-19 |
| 发明（设计）人： | 柯宇锷;杨怀伟;李纪;徐朝哲 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司;合肥京东方光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13 |
| 代理公司： | 北京律智知识产权代理有限公司 11438 | 代理人： | 袁礼君;王卫忠 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开提供一种液晶盒测试装置以及液晶显示面板的测试方法，涉及显示技术领域，用于对待测液晶显示面板进行分析测试，且在测试时配置于由待测液晶显示面板拆分而得的待测阵列基板和待测彩膜基板之间。所述液晶盒测试装置包括：相对设置的第一基板和第二基板；位于第一基板和第二基板之间的液晶层；位于第一基板面向液晶层一侧的第一取向层；位于第二基板面向液晶层一侧的第二取向层；其中，所述液晶层中的液晶分子与所述待测液晶显示面板中的液晶分子具有相同的类型。本公开可判断产生MURA不良的位置，从而提高不良解析效率。 | ||
| 搜索关键词： | 液晶 测试 装置 以及 液晶显示 面板 方法 | ||
【主权项】：
一种液晶盒测试装置，用于对待测液晶显示面板进行分析测试；其特征在于，所述液晶盒测试装置在进行测试时配置于由所述待测液晶显示面板拆分而得的待测阵列基板和待测彩膜基板之间；所述液晶盒测试装置包括：相对设置的第一基板和第二基板；位于所述第一基板和所述第二基板之间的液晶层；位于所述第一基板面向所述液晶层一侧的第一取向层；位于所述第二基板面向所述液晶层一侧的第二取向层；其中，所述液晶层中的液晶分子与所述待测液晶显示面板中的液晶分子具有相同的类型。
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