[发明专利]液晶盒测试装置以及液晶显示面板的测试方法

说明书

本公开提供一种液晶盒测试装置以及液晶显示面板的测试方法，涉及显示技术领域，用于对待测液晶显示面板进行分析测试，且在测试时配置于由待测液晶显示面板拆分而得的待测阵列基板和待测彩膜基板之间。所述液晶盒测试装置包括：相对设置的第一基板和第二基板；位于第一基板和第二基板之间的液晶层；位于第一基板面向液晶层一侧的第一取向层；位于第二基板面向液晶层一侧的第二取向层；其中，所述液晶层中的液晶分子与所述待测液晶显示面板中的液晶分子具有相同的类型。本公开可判断产生MURA不良的位置，从而提高不良解析效率。

技术领域

本公开涉及显示技术领域，尤其涉及一种液晶盒测试装置以及液晶显示面板的测试方法。

背景技术

随着光学技术和半导体技术的发展，以TFT-LCD(Thin Film Transistor-LiquidCrystal Display，薄膜晶体管-液晶显示器)为代表的平板显示器具有轻薄、能耗低、反应速度快、色纯度佳、以及对比度高等特点，在显示领域占据了主导地位。

在TFT-LCD的制备生产和不良解析过程中，常常需要确定阵列基板或者彩膜基板的单侧MURA(亮度不均)现象，以此来确认责别、改善工序，从而达到提高良率的目的。但是目前为止，在显示面板的生产过程中仍然无法有效的检测到单侧基板上的MURA现象，而且在不良解析过程中也无法多次复现MURA现象，从而为单侧基板的不良解析带来了一定的难度。

需要说明的是，在上述背景技术部分公开的信息仅用于加强对本公开的背景的理解，因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。

发明内容

本公开的目的在于提供一种液晶盒测试装置以及液晶显示面板的测试方法，以用于解决基板的MURA不良解析问题。

本公开的其他特性和优点将通过下面的详细描述变得显然，或部分地通过本公开的实践而习得。

根据本公开的一个方面，提供一种液晶盒测试装置，用于对待测液晶显示面板进行分析测试；所述液晶盒测试装置在进行测试时配置于由所述待测液晶显示面板拆分而得的待测阵列基板和待测彩膜基板之间；

所述液晶盒测试装置包括：

相对设置的第一基板和第二基板；

位于所述第一基板和所述第二基板之间的液晶层；

位于所述第一基板面向所述液晶层一侧的第一取向层；

位于所述第二基板面向所述液晶层一侧的第二取向层；

其中，所述液晶层中的液晶分子与所述待测液晶显示面板中的液晶分子具有相同的类型。

本公开的一种示例性实施例中，所述液晶盒测试装置还包括位于所述第一取向层和所述第二取向层之间的间隔件。

本公开的一种示例性实施例中，所述第一基板与所述第一取向层的整体厚度处于微米级尺度。

本公开的一种示例性实施例中，所述第一基板为硬质透明有机衬底或者减薄玻璃衬底。

本公开的一种示例性实施例中，所述第二基板与所述第二取向层的整体厚度处于微米级尺度。

本公开的一种示例性实施例中，所述第一取向层的取向与所述待测阵列基板的取向层的取向一致，所述第二取向层的取向与所述待测彩膜基板的取向层的取向一致。

本公开的一种示例性实施例中，所述第一取向层包括多个第一取向单元，所述第二取向层包括多个第二取向单元，且所述第一取向单元与所述第二取向单元一一对应设置；

其中，所述多个第一取向单元与所述多个第二取向单元所限定的多个液晶取向区域对应一组显示灰阶。