[发明专利]隧道磁阻效应元件、磁存储器、内置型存储器及制作隧道磁阻效应元件的方法有效

专利信息
申请号: 201780095962.1 申请日: 2017-10-16
公开(公告)号: CN111226324B 公开(公告)日: 2023-08-29
发明(设计)人: 佐佐木智生 申请(专利权)人: TDK株式会社
主分类号: H10N50/10 分类号: H10N50/10;H10N50/85;H10N50/01
代理公司: 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 代理人: 杨琦;陈明霞
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供一种TMR元件,该TMR元件(1)具备磁隧道接合元件部(2)和设置于磁隧道接合元件部的侧面且含有绝缘材料的侧壁部(17),磁隧道接合元件部具有:参照层(3)、磁化自由层(7)、在层叠方向上层叠于参照层和磁化自由层之间的隧道势垒层(5)、以及层叠于磁化自由层的与隧道势垒层侧相反侧的盖层(9),侧壁部含有绝缘材料,具有覆盖磁隧道接合元件部的参照层、隧道势垒层、磁化自由层、及盖层中的至少一个侧面的第一区域(R1),第一区域含有构成磁隧道接合元件部的参照层,隧道势垒层,磁化自由层,及盖层中的至少一个层的元素(除氧以外)中的至少一种作为含有元素。
搜索关键词: 隧道 磁阻 效应 元件 磁存储器 内置 存储器 制作 方法
【主权项】:
暂无信息
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