[发明专利]基于点的结构化光系统的反射率图估计有效
| 申请号： | 201780046129.8 | 申请日： | 2017-07-20 |
| 公开（公告）号： | CN109477710B | 公开（公告）日： | 2021-01-29 |
| 发明（设计）人： | M·布莱耶;R·K·普里塞;赵建;D·C·P·德曼多尔克斯 | 申请（专利权）人： | 微软技术许可有限责任公司 |
| 主分类号： | G01B11/25 | 分类号： | G01B11/25;G01N21/55;G06T15/00;G06T7/521;G06K9/20;G01N21/17 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 王茂华 |
| 地址： | 美国华*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供了用于从结构化光图像确定深度图和反射率图的系统和方法。深度图可以通过以下方式来被确定：捕获结构化光图像并且然后使用三角测量方法以基于所捕获的结构化光图像中的点来确定深度图。反射率图可以基于深度图并且基于对所捕获的结构化光图像中的点执行附加分析来被确定。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 结构 系统 反射率 估计 | ||
【主权项】：
1.一种用于获取场景的深度图和反射率图的方法，包括：将结构化光图像投射到场景上，所投射的所述结构化光图像包括多个点；捕获场景的结构化光图像，所捕获的所述结构化光图像包括多个像素，与来自所述多个点中的点相关联的像素同与来自所述多个点中的点不相关联的像素的比率为约1.0或更小；基于所捕获的所述结构化光图像来确定深度图；检测所述多个点中被投射到所述场景上的一个或多个点；基于所确定的所述深度图来确定针对与检测到的所述点相对应的所捕获的所述结构化光图像的一个或多个部分的第一已校正强度廓型；以及基于所确定的所述第一已校正强度廓型来计算针对所捕获的所述结构化光图像的至少一个附加部分的附加强度廓型，经组合的所述第一已校正强度廓型和所述附加强度廓型包括反射率图，其中与来自所述多个点中的点相关联的像素同与所述多个点中的点不相关联的像素的比率为约1.0或更小，或者其中与检测到的点相关联的像素同与检测到的点不相关联的像素在竖直方向和水平方向中的至少一项上的比率为约0.5或更小。
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