[发明专利]分光器、波长测量装置以及光谱测量方法有效
| 申请号： | 201780041393.2 | 申请日： | 2017-07-04 |
| 公开（公告）号： | CN109716079B | 公开（公告）日： | 2021-04-06 |
| 发明（设计）人： | 小西毅 | 申请（专利权）人： | 国立大学法人大阪大学 |
| 主分类号： | G01J3/45 | 分类号： | G01J3/45;G01J3/04;G01J9/02 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 安香子 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 用于测量输入光的光谱的分光器(100、200)，具备：条纹形成器，通过分离输入光，从而形成具有第一间距的第一条纹；衍射光栅(103)，使第一条纹色散；莫列波纹形成器，通过将被色散的第一条纹与具有第二间距的第二条纹重叠，从而形成莫列波纹，第二间距是与第一间距不同的间距；以及摄像元件(107)，通过检测莫列波纹，从而测量输入光的光谱，条纹形成器和莫列波纹形成器中的至少一方，包含柱面透镜阵列(101、205)。 | ||
| 搜索关键词： | 分光 波长 测量 装置 以及 光谱 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种分光器，用于测量输入光的光谱，所述分光器具备：条纹形成器，通过分离所述输入光，从而形成具有第一间距的第一条纹；色散元件，使所述第一条纹色散；莫列波纹形成器，通过将被色散的所述第一条纹与具有第二间距的第二条纹重叠，从而形成莫列波纹，所述第二间距是与所述第一间距不同的间距；以及测量器，通过检测所述莫列波纹，从而测量所述输入光的光谱，所述条纹形成器和所述莫列波纹形成器中的至少一方，包含柱面透镜阵列。
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